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原文由 alexright 发表:原文由 xrfsply 发表:样品冷却越迅速，影响越大。
哥们，能定量么？请教，有没有这方面的文章？嘿嘿．
我只知道，不均匀的冷却，会出现晶斑．
当前主流XRF综合稳定度均优于0.1%。因此XRF分析误差主要由样品所引起，更确切地说，是由于制样产生的样品高度误差以及样品定位误差所引起。有关实验表明，采用铂/金坩埚铸型的自动熔样机制备的玻璃熔片，表面曲率的变化导致的样品定位误差可高达100微米。有些粉末压片后分析表面可能因膨胀而出现弯曲（例如含高硅的样品），富含碳酸钙的样品有时也可能发生弯曲。近来，一些XRF主力厂商纷纷将其新品由上照射方式改为下照射方式，一是简化XRF结构，更重要的考虑则是减小样品定位误差。
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同意。前面提到的是进一步提高XRF分析精度时所遇到的问题。