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ID:wangdajiu
行业:其他
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ID:jimzhu
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:附件好像看不到内容?请重新上传一下。
原文由 wangdajiu(wangdajiu) 发表:我用的是A的7890A-5975C,为什么选用SIM采集模式采样时基线会产生台阶,而相同条件下全扫描则不会产生台阶?产生台阶的原因是什么?大家有遇到过SIM采集产生台阶这种情况吗
ID:lpr20
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:替楼主贴出谱图:
ID:may-nie
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:SIM采集产生台阶基线是正常的情况。因为选择的扫描离子不同,扫描的灵敏度也不同,另外各个段的基质影响也可能不同,所以基线有台阶。
原文由 阿宝(lpr20) 发表:sim模式用的比较少,不过没注意是不是有台阶只选一个碎片是不是就没有台阶了?