主题:【原创】各版友请进,近期将给力推出扫盲贴系列,问题征集中

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原文由 scutacdeath(scutacdeath) 发表:
原文由 shufengliu(shufengliu) 发表:
1,峰形出现双峰,会有哪些因素引起?
2,峰形出现肩峰,会有哪些因素引起?
3,软件里推荐的基改是不是对所有情况的基体都管用?
4,若背景峰的面积占测定峰的面积太大,会不会影响结果的准确性?
5,若利用“标准加入法”比较斜率的方法判断基体干扰的程度,直接比较斜率的大小是否妥当?是不是应该有一些数理统计方面的手段。因为,两次做的曲线斜率都不一样,差别在多少时,算是干扰?
6,石墨炉原子化时,被测元素应该是以基态原子(绝大多数)的形态存在,为什么三价铬和六价铬的吸光度值会差别很大?


我先来简单的回答下你的一些问题,峰形问题留给haodou000解答。
3,软件里推荐的基改并不是对所有情况都合适。一些高温元素是可以不加基改的。如:我在测铬时,发现不用基改时的信号值比用基改时的信号值要高很多,而且背景也小很多,因此我在测铬时没有用软件推荐的基改。关于软件推荐的条件,我一般这样操作:先按推荐条件做一遍,然后再自行优化参数,你可以通过改变某些参数对比其信号值大小来决定,过程中有好的想法也是可以试试的。
4,如果用的火焰法会有一定的影响,因为火焰法用的是氘灯扣背景;如果用石墨炉一般没什么影响,石墨炉法用的是塞曼扣背景,只要保证同支溶液两次读数的背景差不多就可以。详情请参考我发的一贴“关于背景校正技术”。
5,标准加入法能消除的干扰只是基体干扰,因为AAS是单波长,一般不会有元素干扰。基体匹配也能消除基体干扰,即在标准曲线中的基体与样品基体保持大体一致。如:测90%铅中的铁,你的标准曲线应该用90%铅溶液来定容。
6,AAS要将元素原子化才能测其吸光值,不同价态的元素其原子化需要的能量是不一样的。容易原子化的信号值当然大些,难原子化的信号值会小些。检测器辨别的是原子化了的元素,并不是绝大多数元素在原子化阶段都以基态原子存在。

以上是本人的一些看法,不足或有错之处请指出。希望能帮到你,欢迎你常来。


我也来学习一下!!的确不错!
这个活动一定要好好搞下去!!
qiuxingwei
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用心飞
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2,峰形出现肩峰,会有哪些因素引起?
3,软件里推荐的基改是不是对所有情况的基体都管用?
4,若背景峰的面积占测定峰的面积太大,会不会影响结果的准确性?
5,若利用“标准加入法”比较斜率的方法判断基体干扰的程度,直接比较斜率的大小是否妥当?是不是应该有一些数理统计方面的手段。因为,两次做的曲线斜率都不一样,差别在多少时,算是干扰?
6,石墨炉原子化时,被测元素应该是以基态原子(绝大多数)的形态存在,为什么三价铬和六价铬的吸光度值会差别很大?


我先来简单的回答下你的一些问题,峰形问题留给haodou000解答。
3,软件里推荐的基改并不是对所有情况都合适。一些高温元素是可以不加基改的。如:我在测铬时,发现不用基改时的信号值比用基改时的信号值要高很多,而且背景也小很多,因此我在测铬时没有用软件推荐的基改。关于软件推荐的条件,我一般这样操作:先按推荐条件做一遍,然后再自行优化参数,你可以通过改变某些参数对比其信号值大小来决定,过程中有好的想法也是可以试试的。
4,如果用的火焰法会有一定的影响,因为火焰法用的是氘灯扣背景;如果用石墨炉一般没什么影响,石墨炉法用的是塞曼扣背景,只要保证同支溶液两次读数的背景差不多就可以。详情请参考我发的一贴“关于背景校正技术”。
5,标准加入法能消除的干扰只是基体干扰,因为AAS是单波长,一般不会有元素干扰。基体匹配也能消除基体干扰,即在标准曲线中的基体与样品基体保持大体一致。如:测90%铅中的铁,你的标准曲线应该用90%铅溶液来定容。
6,AAS要将元素原子化才能测其吸光值,不同价态的元素其原子化需要的能量是不一样的。容易原子化的信号值当然大些,难原子化的信号值会小些。检测器辨别的是原子化了的元素,并不是绝大多数元素在原子化阶段都以基态原子存在。

以上是本人的一些看法,不足或有错之处请指出。希望能帮到你,欢迎你常来。

对于你第3条的回复,我是认同的。可能这就是石墨炉应用的难点吧。我觉得,一切根据分析标准按程序做下来,这根本不叫做实验!
对于你第4条的回复,我不认同。不管氘灯扣背景,还是塞曼,所扣背景的数值都是有一定的数值波动的。也就是说,背景值本身也有RSD,不信你可以去看看重复分析背景值的变异。如果背景值过高,那怕只有5%的RSD,也会对结果带来很大的影响。
对于你第5条的回复,你并没有理解我的意思。我本意不是你回复的那些。
对于你第6条的回复,我认同一半。“并不是绝大多数元素在原子化阶段都以基态原子存在”,这句跟前面那些矛盾吧?
不管怎样,感谢你的回复。道理越辩越明。
该帖子作者被版主 scutacdeath2积分, 2经验,加分理由:欢迎讨论
逆天
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2,峰形出现肩峰,会有哪些因素引起?
3,软件里推荐的基改是不是对所有情况的基体都管用?
4,若背景峰的面积占测定峰的面积太大,会不会影响结果的准确性?
5,若利用“标准加入法”比较斜率的方法判断基体干扰的程度,直接比较斜率的大小是否妥当?是不是应该有一些数理统计方面的手段。因为,两次做的曲线斜率都不一样,差别在多少时,算是干扰?
6,石墨炉原子化时,被测元素应该是以基态原子(绝大多数)的形态存在,为什么三价铬和六价铬的吸光度值会差别很大?


我先来简单的回答下你的一些问题,峰形问题留给haodou000解答。
3,软件里推荐的基改并不是对所有情况都合适。一些高温元素是可以不加基改的。如:我在测铬时,发现不用基改时的信号值比用基改时的信号值要高很多,而且背景也小很多,因此我在测铬时没有用软件推荐的基改。关于软件推荐的条件,我一般这样操作:先按推荐条件做一遍,然后再自行优化参数,你可以通过改变某些参数对比其信号值大小来决定,过程中有好的想法也是可以试试的。
4,如果用的火焰法会有一定的影响,因为火焰法用的是氘灯扣背景;如果用石墨炉一般没什么影响,石墨炉法用的是塞曼扣背景,只要保证同支溶液两次读数的背景差不多就可以。详情请参考我发的一贴“关于背景校正技术”。
5,标准加入法能消除的干扰只是基体干扰,因为AAS是单波长,一般不会有元素干扰。基体匹配也能消除基体干扰,即在标准曲线中的基体与样品基体保持大体一致。如:测90%铅中的铁,你的标准曲线应该用90%铅溶液来定容。
6,AAS要将元素原子化才能测其吸光值,不同价态的元素其原子化需要的能量是不一样的。容易原子化的信号值当然大些,难原子化的信号值会小些。检测器辨别的是原子化了的元素,并不是绝大多数元素在原子化阶段都以基态原子存在。

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对于你第3条的回复,我是认同的。可能这就是石墨炉应用的难点吧。我觉得,一切根据分析标准按程序做下来,这根本不叫做实验!
对于你第4条的回复,我不认同。不管氘灯扣背景,还是塞曼,所扣背景的数值都是有一定的数值波动的。也就是说,背景值本身也有RSD,不信你可以去看看重复分析背景值的变异。如果背景值过高,那怕只有5%的RSD,也会对结果带来很大的影响。
对于你第5条的回复,你并没有理解我的意思。我本意不是你回复的那些。
对于你第6条的回复,我认同一半。“并不是绝大多数元素在原子化阶段都以基态原子存在”,这句跟前面那些矛盾吧?
不管怎样,感谢你的回复。道理越辩越明。


4、这个问题我也在探索中,现在我的看法还是如上述。就算是元素的信号两次的读值也会有出入,而背景也是一样的。但如果元素的吸光值较大(个人认为能有0.0500以上),即使背景值很大(甚至达0.1000),我认为还是可以准确测量的。
5、这个问题我确实没深入思考过,只能片面回答与标准加入法相关的。
6、不矛盾,因为检测器能分辨的就是已原子化了的元素,除了原子化了的元素可能还有别的形式存在,而这些形式不能被检测器所分辨。原子化程度高其信号值高,原子化程度低其信号值也低。纯属个人意见,欢迎讨论。
coffee8
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建议这几个话题分开单独逐一讨论,还是很有研究潜力的呀!!
这样篇幅有些大,可能不利于版友们学习呀!!
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