原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:原文由 jay82325388(jay82325388) 发表:
那也就是说,不同的样品,通过调整TEM。都可以观察到透射像?
查到这三个成像机理,跟所用样品的种类和厚度有关,例如散射成像观察断层,衍射成像观察薄膜晶体,
既然是普适的。那针对这三种机理。需要调节透射电镜的什么部分呢?
我说的普适,是指这三种称度一般样品都有,只是比例多少而已。比如纳米颗粒,散射称度的贡献相对就比较小,金属块样,衍射称度和散射称度就大。电镜的调节针对这些并没有专门的功能键,而只是根据需要调节样品的取向,离焦值等等。