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主题：【原创】在固体直接分析中，目前国内都哪些质谱法应用？

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金水楼台先得月

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发表于：2011/05/03 15:07:25 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

在固体直接分析中，目前国内都哪些质谱法应用？他们的检测原理是什么，都有哪些应用，各自的优缺点是什么？

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2011/5/3 15:30:37 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

SIMS,Tof-SIMS,La-ICP-MS,GDMS,XRF,IR类的都算吧？
好像还有一个叫什么“激光激发什么什么的光谱仪”。
各个百度下酒知道了。

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2011/5/3 15:34:01 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我想问问大家有做这方面的没有，分享一下经验

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光哥

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2011/5/3 16:14:03 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

估计有难度，看论坛里的帖子，多的有LA连用的，GDMS和SIMS好少。
你要在上海的话就方便了，去复旦的材料系，那里有1台SIMS（4f好像），1台的Tof-SIMS。曹老师和方老师还是很愿意传授些知识的。

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2011/5/3 17:24:47 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

是吗，看来论坛用这些的还是少

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2011/5/4 8:40:26 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 小光(xsh1234567) 发表:
SIMS,Tof-SIMS,La-ICP-MS,GDMS,XRF,IR类的都算吧？
好像还有一个叫什么“激光激发什么什么的光谱仪”。
各个百度下酒知道了。

你指的是激光电离质谱法吧（LIMS）？

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2011/5/4 8:41:37 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 小光(xsh1234567) 发表:
估计有难度，看论坛里的帖子，多的有LA连用的，GDMS和SIMS好少。
你要在上海的话就方便了，去复旦的材料系，那里有1台SIMS（4f好像），1台的Tof-SIMS。曹老师和方老师还是很愿意传授些知识的。

这些方法，跟XRF法比较，有什么优缺点呢。

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2011/5/4 9:37:23 7楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

二次离子质谱/二次离子探针 SIMS 剥蚀束斑为10-30um(也有纳米级别的SIMS)，剥蚀深度通常只有2-3um，基本无损样品。

辉光放电质谱仪 GDMS，目前只有Thermo公司生产，主要用于高纯金属导体/半导体材料分析。
http://www.thermo.com.cn/Product1010.html

LA-ICP-MS 导体/非导体都可以，用途很广泛。

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2011/5/4 17:39:28 8楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
二次离子质谱/二次离子探针 SIMS 剥蚀束斑为10-30um(也有纳米级别的SIMS)，剥蚀深度通常只有2-3um，基本无损样品。

辉光放电质谱仪 GDMS，目前只有Thermo公司生产，主要用于高纯金属导体/半导体材料分析。
http://www.thermo.com.cn/Product1010.html

LA-ICP-MS 导体/非导体都可以，用途很广泛。

SIMS在生命科学及生物药学也有应用？

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nps

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2011/5/5 18:44:59 9楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

对固体直接分析不熟悉，来学习~~~

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2011/5/5 22:48:25 10楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
二次离子质谱/二次离子探针 SIMS 剥蚀束斑为10-30um(也有纳米级别的SIMS)，剥蚀深度通常只有2-3um，基本无损样品。

辉光放电质谱仪 GDMS，目前只有Thermo公司生产，主要用于高纯金属导体/半导体材料分析。
http://www.thermo.com.cn/Product1010.html

LA-ICP-MS 导体/非导体都可以，用途很广泛。

记忆里的SIMS有2种，一种是成像的，另外的一种离子束能量比较大，可以做深度分析。后面的那一种不能算是无损分析吧

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