主题:为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响?

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applezhang
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X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度大,结果就高,而其他元素则基本没有影响。
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萧文
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萧文
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独行侠
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多厚?各个元素含量多少,Sb变化多大,样品信息如何?
tmhxy
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主要是你的样品没有达到无限厚度,各元素的无限厚度不同,至于样品中每种元素每条谱线的无限厚度可以进行估算
alexright
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我觉得有点问题吧,既然是压片测定的,还随着厚度增加而增大,那应该不会是很薄的样品吧。再说,“还随着厚度增加而增大”不一定是规律吧。
nameylf
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原文由 applezhang 发表:
X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度大,结果就高,而其他元素则基本没有影响。


首先明确两个问题:

1、你用的仪器是能量色散,还是波长色散?测量的是K线系还是L线系?
2、样品是什么材质的?
applezhang
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谢谢大家。厚度超过一定大小后测量值基本不变了。
能谱仪,K线测量,Al、Si催化剂中1000~3000ppmSb
tmhxy
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原子序数较低的元素(或基体)对能量较高的谱线吸收系数较低,因此无限厚度也就大一点
天瑞仪器
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原文由 applezhang 发表:
谢谢大家。厚度超过一定大小后测量值基本不变了。
能谱仪,K线测量,Al、Si催化剂中1000~3000ppmSb


Sb的K线能量较高,能穿透更厚的样品(相对本样品中的其他元素的特征射线),所以饱和厚度也就比其他元素厚。
panguiying
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