主题:【求助】XRF怎样实现多种金属同时测量的?

浏览0 回复6 电梯直达
fitmm
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大概的原理我知道,是根据各金属的特征X射线波长不一,但是探测器是如何实现这一功能的?进入探测器以后不都变成电信号了吗?怎么分辨波长呢??本人刚刚开始了解这一领域,请大家不吝赐教。
该帖子作者被版主 金水楼台先得月2积分, 2经验,加分理由:鼓励发贴
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金水楼台先得月
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fitmm
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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
给你一张图,看有用不


是不是分光晶体变换角度从而测定不同的金属?而每个角度只能测一种是吗?但是经过准直器后,光线的入射角度不都是一样的吗?
qcz9999
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看来理解的还是有点问题,建议看看XRF的基础理论(知识)
iangie
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原文由 luna_lume(luna_lume) 发表:
是不是分光晶体变换角度从而测定不同的金属?而每个角度只能测一种是吗?但是经过准直器后,光线的入射角度不都是一样的吗?


分光晶体和探测器都在转的...
zbb1982
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X荧光类仪器主要分波长色散和能量色散,波长色散是将样品返回的X荧光,用分光晶体分光,不同波长的X荧光,经过晶体反射后会在不同的角度能接收到,通过识别不同的角度就能确定X荧光的波长,就能确定元素。能量色散是将样品返回的X荧光直接进探测器,进行光子能量的收集,不同元素的电子层,具有不同的能量,能经过探测器产生不同幅度的脉冲,通过识别不同的脉冲幅度就可以识别不同的元素。一般波长色散的仪器识别精度比能量色散的要高,也比较贵。波长色散分固定道和扫描道的。扫描道的技术难度最大,价格也最高。
fitmm
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原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:
X荧光类仪器主要分波长色散和能量色散,波长色散是将样品返回的X荧光,用分光晶体分光,不同波长的X荧光,经过晶体反射后会在不同的角度能接收到,通过识别不同的角度就能确定X荧光的波长,就能确定元素。能量色散是将样品返回的X荧光直接进探测器,进行光子能量的收集,不同元素的电子层,具有不同的能量,能经过探测器产生不同幅度的脉冲,通过识别不同的脉冲幅度就可以识别不同的元素。一般波长色散的仪器识别精度比能量色散的要高,也比较贵。波长色散分固定道和扫描道的。扫描道的技术难度最大,价格也最高。


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