原文由 moreniu(moreniu) 发表:
1.topas软件中用的str结构文件数据库是怎样获得的?
2.像我这种薄膜的情况该如何定量的确定出Ge的含量呢?xps可以吗?谢谢老师了。
原文由 moreniu(moreniu) 发表:
还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧?
原文由 iangie(iangie) 发表:原文由 moreniu(moreniu) 发表:
1.topas软件中用的str结构文件数据库是怎样获得的?
str数据库原来是要买的"The TOPAS structure databases are optional add-on's to TOPAS, which have to be ordered separately."
后来TOPAS user meeting会免费发给参会的用户. 最近的一次11月在德国开~还有机会哦~你去参加一次就能拿到了~~2.像我这种薄膜的情况该如何定量的确定出Ge的含量呢?xps可以吗?谢谢老师了。
生长薄膜的织构决定了不同厚度层的成分不一样, 你这个XRD结果只是所检测层厚度内的平均物相含量.
XPS也是给出元素信息不是物相信息, 相比之下断面EDS更靠谱.原文由 moreniu(moreniu) 发表:
还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧?
yes