主题:【求助】请帮忙分析XRD定量数据

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moreniu
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样品是在Cu基体上沉积的Ge,结果部分Ge与Cu形成了Cu3Ge合金,想确定下合金中的Ge和单质Ge的含量比例,谢谢斑竹了

靶材是Cu 1.5406nm

入射狭缝:1.0mm

衍射狭缝:8mm

防散射 0.5Ni

=========斑竹编辑========
大哥,帖子标题不要写名字啊, 你这不是拒绝其他人回帖吗........
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iangie
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moreniu
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一会有空来看看......


谢谢老师了。
iangie
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你给的两个谱是一样的

大致fit一下, 生成的Cu3Ge貌似有两个晶胞参数, 所以用了两个相.

p.s. 注意Rietveld 定量主要是用来给粉晶定量的, 薄膜一般不定量, 定量结果也会受织构很大的影响.

moreniu
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你给的两个谱是一样的

大致fit一下, 生成的Cu3Ge貌似有两个晶胞参数, 所以用了两个相.

p.s. 注意Rietveld 定量主要是用来给粉晶定量的, 薄膜一般不定量, 定量结果也会受织构很大的影响.



谢谢老师了,辛苦了,还有两个问题请您帮忙解答

1.topas软件中用的str结构文件数据库是怎样获得的?

2.像我这种薄膜的情况该如何定量的确定出Ge的含量呢?xps可以吗?谢谢老师了。
moreniu
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还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧?
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2011/8/21 22:24:34 Last edit by moreniu
iangie
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1.topas软件中用的str结构文件数据库是怎样获得的?

str数据库原来是要买的"The TOPAS structure databases are optional add-on's to TOPAS, which have to be ordered separately."
后来TOPAS user meeting会免费发给参会的用户. 最近的一次11月在德国开~还有机会哦~你去参加一次就能拿到了~~

2.像我这种薄膜的情况该如何定量的确定出Ge的含量呢?xps可以吗?谢谢老师了。

生长薄膜的织构决定了不同厚度层的成分不一样, 你这个XRD结果只是所检测层厚度内的平均物相含量.
XPS也是给出元素信息不是物相信息, 相比之下断面EDS更靠谱.

原文由 moreniu(moreniu) 发表:
还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧?

yes
moreniu
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1.topas软件中用的str结构文件数据库是怎样获得的?

str数据库原来是要买的"The TOPAS structure databases are optional add-on's to TOPAS, which have to be ordered separately."
后来TOPAS user meeting会免费发给参会的用户. 最近的一次11月在德国开~还有机会哦~你去参加一次就能拿到了~~

2.像我这种薄膜的情况该如何定量的确定出Ge的含量呢?xps可以吗?谢谢老师了。

生长薄膜的织构决定了不同厚度层的成分不一样, 你这个XRD结果只是所检测层厚度内的平均物相含量.
XPS也是给出元素信息不是物相信息, 相比之下断面EDS更靠谱.

原文由 moreniu(moreniu) 发表:
还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧?

yes


了解了,谢谢老师,您辛苦了。
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