原文由 jack510070(jack510070) 发表:
夕阳老师太客气了。问题1,主要取决于色散系统的分辨能力,一般来说可以事先作标准样品的吸收试验,然后观察其吸收谱线轮廓,一般可以确定离开的距离。这是我在一台改装的连续光源AAS上的做法。问题二,如果结构背景距离分析谱线太近,那是没有办法的,一般情况下,0.Xnm的谱线侧翼干扰不存在问题。问题三:关于中阶梯光栅系统地光谱分辨率问题,一般的看法是因为衍射级数的增大导致光谱分辨率的提升。其实,光栅条纹间距也同时增大了,分辨率并未因此而提高。影响分辨率的主要因素其实是衍射角,因为线色散率反比于衍射角的余弦,但改善余地也不大。另一个因素是输孔狭缝宽度,中阶梯光栅的衍射效率较高,因此可以使用小的入射孔。极端情况下,2pm的分辨能力是可以做到的。我曾经研究过中阶梯光栅,也演算过分辨率,但是是好几年前的事了。现在记得好像是可以达到2pm(@200nm)的。