主题:【求助】连续光源的原吸,背景校正是采用什么技术?

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jack510070
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连续光源AAS使用高压氙灯为光源,这种光源能够覆盖200~800nm的光谱区域。同时,其光谱分析系统采用了棱镜-中阶梯光栅正交耦合色散,最后用半导体图像检测器读取二维色散图像。通俗来说,连续光源AAS系统一次采样可以获得整个原子光谱区域中每一个波长处的吸光值。我们可以想象一下:如果样品中有Cu,那么将在327.4对应的位置上产生一个暗点。读得该暗点中最暗区域的光强度,以及离开这个暗点一定距离,但十分靠近暗点两侧的两个光强度,后两个光强度分别除以中心暗点的光强并取对数,最后把两个吸光值取平均,就是校正了背景吸收的纯Cu元素吸光值。大家可能太习惯线光源原子吸收了,所以想象连续光源必须有背景校正装置。其实,连续光源的背景校正方式才是最基本、最经典的方式。
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夕阳
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谢谢007大侠言简意赅的解释。
我有三个疑问想请教大侠:
(1)按照大侠的解释,背景信号选择所测元素的中心波长的两侧的光强度为参考点的话,这左右两侧的采集点的波长与所测元素波长的距离是多少?
(2)如果所测元素波长的左右两侧存在结构背景的话,这种背景扣除方法会不会引起校正误差?
(3)中阶梯光栅的光谱谱线分辨率是多少?真的能达到0.002nm的水平吗?
望大侠在白忙之中能点拨一二可否?在下先谢过了!
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jack510070
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夕阳老师太客气了。问题1,主要取决于色散系统的分辨能力,一般来说可以事先作标准样品的吸收试验,然后观察其吸收谱线轮廓,一般可以确定离开的距离。这是我在一台改装的连续光源AAS上的做法。问题二,如果结构背景距离分析谱线太近,那是没有办法的,一般情况下,0.Xnm的谱线侧翼干扰不存在问题。问题三:关于中阶梯光栅系统地光谱分辨率问题,一般的看法是因为衍射级数的增大导致光谱分辨率的提升。其实,光栅条纹间距也同时增大了,分辨率并未因此而提高。影响分辨率的主要因素其实是衍射角,因为线色散率反比于衍射角的余弦,但改善余地也不大。另一个因素是输孔狭缝宽度,中阶梯光栅的衍射效率较高,因此可以使用小的入射孔。极端情况下,2pm的分辨能力是可以做到的。我曾经研究过中阶梯光栅,也演算过分辨率,但是是好几年前的事了。现在记得好像是可以达到2pm(@200nm)的。
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夕阳
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原文由 jack510070(jack510070) 发表:
夕阳老师太客气了。问题1,主要取决于色散系统的分辨能力,一般来说可以事先作标准样品的吸收试验,然后观察其吸收谱线轮廓,一般可以确定离开的距离。这是我在一台改装的连续光源AAS上的做法。问题二,如果结构背景距离分析谱线太近,那是没有办法的,一般情况下,0.Xnm的谱线侧翼干扰不存在问题。问题三:关于中阶梯光栅系统地光谱分辨率问题,一般的看法是因为衍射级数的增大导致光谱分辨率的提升。其实,光栅条纹间距也同时增大了,分辨率并未因此而提高。影响分辨率的主要因素其实是衍射角,因为线色散率反比于衍射角的余弦,但改善余地也不大。另一个因素是输孔狭缝宽度,中阶梯光栅的衍射效率较高,因此可以使用小的入射孔。极端情况下,2pm的分辨能力是可以做到的。我曾经研究过中阶梯光栅,也演算过分辨率,但是是好几年前的事了。现在记得好像是可以达到2pm(@200nm)的。


首先谢谢007大侠及时,耐心,细致的解答,原吸版有007大侠这样实至名归的专家真乃一大幸事也!让我这个山寨版的“专家”深感惭愧啊!
只不过第三项的内容较为专业些,不太易懂。此外中阶梯光栅的分辨率真的可以达到0.002nm吗?
还有一个弱弱的问题,像塞曼扣除背景方式的仪器的优点比较突出,因此现在许多大的厂家均已跟风;但是既然中阶梯光栅的仪器有这么多的有点,为何模仿的厂家却不多呢?题外话啦!
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2011/9/22 11:24:26 Last edit by anping
lotuslau
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jack510070
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中阶梯光栅可以达到0.002nm(2pm)/Pixel的水平。
中阶梯光栅原子吸收必须采用连续光源才有意义,而这种“原生态”的背景校正技术也只有在连续光源下才能成为现实。目前没有厂家模仿的主要原因是技术难度太大了,成本也太高了。
夕阳
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原文由 jack510070(jack510070) 发表:
中阶梯光栅可以达到0.002nm(2pm)/Pixel的水平。
中阶梯光栅原子吸收必须采用连续光源才有意义,而这种“原生态”的背景校正技术也只有在连续光源下才能成为现实。目前没有厂家模仿的主要原因是技术难度太大了,成本也太高了。


谢谢大侠的解释!明白了!
春雨桃花
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小女子好久未上论坛啦!今天看到两位大家的对决真可谓是“华山论剑”啊!精彩!真精彩!过瘾!真过瘾!这才是真正的论坛的风气呀!
快乐
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还是没有看太明白,请再问一句,连续光源的背景校正优于塞曼、氘灯吗?准确性更佳吗?
jajazwd
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连续光源原子吸收集普通火焰原子吸收和ICP发射光谱的优点于一身:
一个氙灯覆盖全部波长 (189-900nm), 可测所有元素, 不需要60多个空心阴极灯
可得到时间-波长-信号的三维信息和数据,据此可进行原子吸收中干扰和原理的进一步研究。
同时测定被测元素和背景信号,并进行同时背景扣除,快速且准确
快速多元素分析,每分钟10-20个元素,优于或相当于普通ICP的分析速度
分析动态范围由于普通锐线光源原子吸收
检出现普遍得到改善,平均比锐线光源原子吸收改善2-8倍
分析成本低:不需要ICP所需的大量氩气和炬管,而且低于普通锐线光源原子吸收的分析成本(多元素快速分析,不需要众多的空心阴极灯)
采用吸收原理,谱线情况比ICP简单得多
样品之间切换快速,不需要很长的清洗时间
分析方法简单易用,结果可靠性和方法适用性比ICP高。
以上摘自网上介绍
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