主题:【讨论】干法分析的检出限大家是如何确定的?

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chauchylan
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湿法分析如AAS,ICP-OES,ICP-MS等检出限相对来说好做一些
但干法分析如SPARK-OES,GD-OES,GD-MS,LA/ICP-MS,LA/ICP-OES,XFS,LIBS,SIMS等针对固体直接分析的仪器大家是如何确定它的检出限的?
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cuihuakun
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有些厂家好像是通过多次测量同一块标样,得出各个元素的绝对偏差和相对偏差,以这个为基础乘上某个系数,不确定说的对不对
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我知道的好像是做所谓的空白 如铁基的做纯铁 铜基的纯铜
当然不可是完全的纯的 ,有杂质,但一般不会太高
chauchylan
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在ARL Qantris 直读光仪中,当你绘制完工作曲线后,软件就自动给出dection limit%(检测限),仪器的这个检出限是如何计算的,标样中并没有用所谓的空白啊,I am wondering ...
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在ARL Qantris 直读光仪中,当你绘制完工作曲线后,软件就自动给出dection limit%(检测限),仪器的这个检出限是如何计算的,标样中并没有用所谓的空白啊,I am wondering ...


方法姝检出限一般都是要自己做的, 你说的软件自动给出的dection limit,个人觉得应该是当前所拟合出来的曲线的测定下限 
chauchylan
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在ARL Qantris 直读光仪中,当你绘制完工作曲线后,软件就自动给出dection limit%(检测限),仪器的这个检出限是如何计算的,标样中并没有用所谓的空白啊,I am wondering ...


方法姝检出限一般都是要自己做的, 你说的软件自动给出的dection limit,个人觉得应该是当前所拟合出来的曲线的测定下限 


但这个测定下限是如何计算得到的?如果你手头没有空白的,那就没法计算检出限了吗?.....
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软件肯定有一个它的算法 怎么算还真没好好研究过 你看是不是跟上面的BEC有关系 回头我问问确认下

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2011/11/17 9:37:20 Last edit by yonglinxu
chauchylan
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应和BEC没有关系,二者的算法不一样吧...
dection limit 不是在这里显示的.每次做完线后,就会自动计算出这个检出限
见图
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不是的 上图的DL就是你这的 Detection Limit
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2011/11/18 21:25:00 Last edit by yonglinxu
chauchylan
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云☆飘☆逸
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