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ID:guoguogn
行业:其他
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ID:liuxuwentiger
ID:albert800922
原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:什么样的标准样品,计数率低到什么程度,说说清楚吧
原文由 guoguogn(guoguogn) 发表:原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:什么样的标准样品,计数率低到什么程度,说说清楚吧您好!标准样品是金属圆片,一个是钛合金(Ti的标准计数率是10400,测的值才1900左右),另外一个是不锈钢(Cr的标准计数率是6500,测的值才1600左右;Fe的标准计数率是34000,测的值才4400左右)。仪器是美国产的,手动调角,仪器运输过一次,就成这样了。
ID:chengxiaojun
原文由 ian.cheng(chengxiaojun) 发表:平时用的是EDX,可以先查看下是否通讯有问题,如果没有可能配件有问题,供参考
原文由 guoguogn(guoguogn) 发表:可移动的就是测角仪部分,调零和晶体调整都试过了,没有变化。谢谢回复!
ID:xrfsply
原文由 仆人(xrfsply) 发表:可能既不是晶体本身位置误差也不是测角仪角度漂移导致的,而是θ(晶体)——2θ(探测器)相互关系发生细微变化造成的。解决方法是:将确定θ——2θ间关系的齿轮松开,在测量钛(正比计数系统)或测量铁(闪烁计数系统)的角度微调θ或2θ,直至计数不再增加为止,然后紧固齿轮。以上是针对一部马达同时驱动θ(晶体)——2θ(探测器)系统而言。如果两者是由两部马达单独驱动,则可在监控模式下微调达成。当然,上述过程是在X射线开启的情况下完成的。