原文由 wenxina 发表:
的确,上面说的都是仪器的检出限,方法的检出限不能简单的用仪器检出限乘以50。
我同意上面小小鸟说的。
对于基体匹配的方法,应该用高纯基体来做检出限,不过我觉得,我们要的是标准偏差,基体里的杂质含量只要到仪器检测不出来就可以了,纯度未必要达到六个九,四个九就差不多了吧。
至于复杂基体,无法基体匹配的话,因为有复杂的基体效应和光谱干扰等,似乎没有好的办法做方法的检出限。事实上当样品的杂质含量低于或接近检出限时,分析结果的相对 误差非常大,我觉得可以用这样的样品来做检出限,作为方法检出限的参考,要注意的是,如果样品的组分发生了变化,方法的检出限也会随之变化。
原文由 shaweinan 发表:
既然你认为上面说的都是仪器的检出限,那首先你认为什么是检出限?基体是什么?基体在什么时候可以达到四个九或六个九?
检出限的定义你上面已经说了,是一个由统计学上得到的置信水平的问题。
但我们不能从统计学上直接得到检出限是多少,这样才有了如何做检出限的问题。
上面谈到用空白溶液做检出限,如果基体对待测元素有非常大的光谱干扰,那可以看出来,方法的检出限要明显比上面说的方法高得多。
至于用基体作检出限的方法,只是对于高纯物质的分析。比如小小鸟,测的是高纯钼里的杂质含量,那我们就可以拿纯度相对待测样品高得多的钼来做为基体。用基体匹配法来分析样品,超纯钼基体产生的基体效应和光谱干扰,将会使方法的检出限明显的变高,所以,这时就要用和样品浓度、酸度等条件相同的超纯钼溶液来做检出限。