主题：【讨论】纳米薄层的边缘检测

原文由 alcestis(alcestis) 发表:
我早就说过我没有这方面的经验，也是抱着学习的态度来回帖的。只是好奇你通过拟合得到的结果误差是多少。你似乎从来没有回答过我着个问题。
说白了，从拟合曲线上看，你数据的有效位数可以达到0.0001nm？（因为你给到了小数点后面第五位）我仅仅觉得这样的精度看起来是不可能的，所以去噪后0.02nm的偏差也无法判定是true difference。我有这个疑问，需要先对我的样品做系列测量之后才能提出吗？
当然我经验有限，以上可能说的都是错的，不过公共论坛不就是讨论问题的地方吗？如果我说的你觉得是错误或对你没用，你要是如版上有些乐于助人的大虾，可以给出更多得解释，不仅对我有帮助，对其他看帖的也有帮助，不失为好事一件。你要是不想解释，大可以不理睬，也不必摆出现在这种口气。
说起来要没有我回复，你帖子早就沉了，你等的同行恐怕就更看不见你帖子了。就算是纯帮你顶贴攒人气，你还得谢谢我呢。
在这版上潜水，觉得板块的氛围很好，也学到不少东西。像您这样如此对待善意回帖的人，我还是第一次见。我会躲您远远的以后。谢谢。

原文由 洪星二锅头(coime) 发表:

原文由 alcestis(alcestis) 发表:
我早就说过我没有这方面的经验，也是抱着学习的态度来回帖的。只是好奇你通过拟合得到的结果误差是多少。你似乎从来没有回答过我着个问题。
说白了，从拟合曲线上看，你数据的有效位数可以达到0.0001nm？（因为你给到了小数点后面第五位）我仅仅觉得这样的精度看起来是不可能的，所以去噪后0.02nm的偏差也无法判定是true difference。我有这个疑问，需要先对我的样品做系列测量之后才能提出吗？
当然我经验有限，以上可能说的都是错的，不过公共论坛不就是讨论问题的地方吗？如果我说的你觉得是错误或对你没用，你要是如版上有些乐于助人的大虾，可以给出更多得解释，不仅对我有帮助，对其他看帖的也有帮助，不失为好事一件。你要是不想解释，大可以不理睬，也不必摆出现在这种口气。
说起来要没有我回复，你帖子早就沉了，你等的同行恐怕就更看不见你帖子了。就算是纯帮你顶贴攒人气，你还得谢谢我呢。
在这版上潜水，觉得板块的氛围很好，也学到不少东西。像您这样如此对待善意回帖的人，我还是第一次见。我会躲您远远的以后。谢谢。

不要伤和气，来这的目的都很明确，要本快乐学习的原则大家共同进步嘛

讨论激烈是好事，不过不要动气，要心平气和，不仅帮助他人了解和积极响应这一话题，而且有助于获得新的灵感，说不定突破点就这一次面红耳赤的讨论中