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ID:jeff_lin
行业:其他
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ID:lotus_sum
原文由 jeff_lin(jeff_lin) 发表:用XRAY测试RoHs,结果Cd的status为 <LOD,这是什么意思?小于设备设计的下限吗?
ID:xurunjiao5339
ID:xrf-info
ID:zhangtao2008
原文由 jeff_lin(jeff_lin) 发表:感谢楼上2位大侠的解惑。看这个结果,是不是说明我的程序选择不对,还是样品不行,是不是检测的结果无效啊?因为样品的底材是Zn,我手上正好没有Zn的程序,就用Composite的程序来测,就出现这结果了。
ID:liuxuwentiger
原文由 天天向上(zhangtao2008) 发表:原文由 jeff_lin(jeff_lin) 发表:感谢楼上2位大侠的解惑。看这个结果,是不是说明我的程序选择不对,还是样品不行,是不是检测的结果无效啊?因为样品的底材是Zn,我手上正好没有Zn的程序,就用Composite的程序来测,就出现这结果了。不是检测无效,是你的改元素标准曲线有截距,你测得样品含量过低,比你设置的零点还低。不知道谁的对不,下面的跟上,讨论!
原文由 波斯猫(liuxuwentiger) 发表:原文由 天天向上(zhangtao2008) 发表:原文由 jeff_lin(jeff_lin) 发表:感谢楼上2位大侠的解惑。看这个结果,是不是说明我的程序选择不对,还是样品不行,是不是检测的结果无效啊?因为样品的底材是Zn,我手上正好没有Zn的程序,就用Composite的程序来测,就出现这结果了。不是检测无效,是你的改元素标准曲线有截距,你测得样品含量过低,比你设置的零点还低。不知道谁的对不,下面的跟上,讨论!也就是背景噪音过高的意思吧