主题:【求助】EDX图谱分析

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lvjitao
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原文由 perpetualcat68(perpetualcat68) 发表:






是否该再慎重点呢?

如果没有bi-pairs-analysis 软件, 结论还是不要轻易地下,先认清元素的能谱是首要的。
看来还是不好说,但是P在我的样品里是有的,我用ICP-OES测过,下次不用锇酸固定做一个试试。
TaoGG
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你可以试试谱线强度比的方法,参考中科院顾峰老师组的研究方法,不过从你的数据来看,是可以确定的。

您的意思是看看Os在不同能量下的谱线强度比吗?是不是在2keV下,Os不会有这么强的峰?从而可以判断含有P


差不多是这个意思,具体指的是同一元素不同谱系下的强度比,根据几家电镜公司提供的数据,大多元素的Kβ线强度比上Kα线强度的值,大约在0.13~0.16之间,根据这个就可以判定啦! (我的判定是有P)


谢谢!您的分析挺有道理。


呵呵,中科院顾峰老师那边就是这样干的,他是国内第一个做分析电镜而评上杰青的,这些我在他的课堂上听过,好像还申请了国家测试标准神马的。。。
TaoGG
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软件分析固然可行,但是软件也是在现有理论的基础下而开发出来的,但是遇到这些重合问题时,有的时候软件分析的方法有点旧了。。。
    当软件处理不是很好时,就需要开动自己的大脑,找新的方法,比如空间差分或者谱线强度比等。。。这些需要手动处理。。。
perpetualcat68
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能展示一下数据分析吗?

是如何判断的呢? 这种情况下,background 是怎样界定的。

各成份比是多少呢? bi-pairs不是很好的解决方法的话,很想了解更好的方法。
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2012/6/27 17:42:56 Last edit by perpetualcat68
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