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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】X射线荧光光谱仪的测试厚度问题

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ljwht
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2013/3/15 10:39:39 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
  X射线在物质中的穿透深度与波长有关。波长越短，穿透深度越大。波长相同时，物质的平均原子序数越小（轻元素含量高），穿透深度越大。换句话说，样品所发射的荧光X射线的波长越短，及样品中的轻元素含量越高，则获得的试样深部的信息就越多。也就意味着，荧光X射线的波长越长，所得到的样品表面附近的信息就越多，或仅包含表面附近的信息。也因此，元素越轻越易受到样品表面的影响。

  测定短波长X射线时，或者分析主成分为轻元素的样品时，如果样品的厚度不够，即使测定组成相同的样品，X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6是Ni箔样品中Ni的荧光X射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下，X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外，易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。



按图，Ni箔样品的有效分析厚度大约是20微米，那钢铁呢  玻璃呢 其他物质呢？
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白水山石
tianzhen
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2013/3/15 14:02:48 12楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
样品的厚度是影响荧光产率的重要因素之一，厚的材料比薄的材料产生的荧光强，但也有个限度，超过一定的度后，再增加厚度对荧光的强度就没什么影响了。这个度在我们也可以称它为饱和厚度。不同的检测元素在不同的基体材料中有不同的饱和厚度，比方说在聚乙烯中Cd和Pb的饱和厚度相同，都是5mm左右，但同样是这两种元素，在PVC中则分别是5mm和0.7mm，而在铜片中，则更低，分别是100微米和20微米。
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葬送青春
v2697894
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2013/3/25 15:21:35 13楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可以测5层（基材不算）  厚度在50um 然后每层的数据都会有的 不用担心
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武汉库尔特
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2013/3/26 21:22:24 14楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼上的：：：：：具我了解，并做了一下实验。不能测
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