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主题：【求助】GC-MS中有关背景扣除的问题

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pinquion
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发表于：2012/08/25 09:36:28 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
仪器是安捷伦，5975（MS)-6890（GC）,测试样品采用的选择性离子扫描，并做了2个空白样品，数据处理过程中，如何扣除空白样品？
是不是采用软件中BSB进行扣除，还是用谱图相减扣除（此项操作在软件上无法实现，总提示要定义X轴）？
再有如果采用BSB扣除背景，这个背景又是什么呢？在选择离子扫描方法下能这样做吗（BSB）？不能的话，又是在什么情况下采用BSB方法呢？

望各位专家给予帮助，谢谢！
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2012/8/25 12:42:17 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
一般SIM不用扣背景。

样品空白扣除的效果不是很好，会因为信号基线等的不稳定而造成误差。

SIM不用BSB。
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pinquion
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2012/8/25 19:46:59 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
是不是全扫瞄时侯才用？如果sim用bsb对结果有多大影响？，
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2012/8/25 21:44:06 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 pinquion(pinquion) 发表:
是不是全扫瞄时侯才用？如果sim用bsb对结果有多大影响？，


一般是全扫描的时候用来扣掉一般干扰的一些离子，是图谱更干净好看。SIM时候各个段所选择的扫描离子不同，无法对整个扫描范围做BSB扣除，也无意义。
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pinquion
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2012/8/26 10:46:01 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那就是说，没有什么影响？
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2012/8/26 11:08:51 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 pinquion(pinquion) 发表:
那就是说，没有什么影响？


也不能说完全无影响，是SIM无法确准进行BSB扣除。如果基质有较大的干扰离子，还是比较麻烦的，如果是定量离子就有可能会造成结果不准。不过我从来不会在SIM进行扣除的，如果不能用，就想其它办法，例如净化样品、尝试更好的分离条件等。因为我在家里，手头无SIM例子的图谱，回头再详细的看看。
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guocui0924
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2013/11/1 13:03:21 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:
原文由 pinquion(pinquion) 发表:
是不是全扫瞄时侯才用？如果sim用bsb对结果有多大影响？，


一般是全扫描的时候用来扣掉一般干扰的一些离子，是图谱更干净好看。SIM时候各个段所选择的扫描离子不同，无法对整个扫描范围做BSB扣除，也无意义。


一般说，扣除背景，这个背景到底是指什么背景呢？我自己试了下，一张图给连续点了三次的背景扣除BSB，整个峰型都完全变形了。
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erge
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2013/11/1 21:12:50 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
扣背景扣除的是空白的一些峰（背景）吧？
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2013/11/1 21:43:54 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 guocui0924(guocui0924) 发表:
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:
原文由 pinquion(pinquion) 发表:
是不是全扫瞄时侯才用？如果sim用bsb对结果有多大影响？，


一般是全扫描的时候用来扣掉一般干扰的一些离子，是图谱更干净好看。SIM时候各个段所选择的扫描离子不同，无法对整个扫描范围做BSB扣除，也无意义。


一般说，扣除背景，这个背景到底是指什么背景呢？我自己试了下，一张图给连续点了三次的背景扣除BSB，整个峰型都完全变形了。


要选择合适的点。
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