主题:【求助】求解!此图是否含硅!!求大侠帮忙解读!

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meifang205
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这张图是一实验室发给我的,用傅里叶红外仪扫描出来的图谱,哪位大侠可以帮忙鉴定下,从这是否可以看出,该样品含硅?
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以我的经验,含硅。1112、962、802都是二氧化硅的特征峰
tangtang
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延陵子
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通过红外判断是否含硅!不太合适!
还是测试元素分析吧!

1157 cm-1左右的吸收峰为Si—O—Si反对称伸缩振动吸收峰,波数为792和607 cm-1左右的吸收峰为Si—O—Si对称伸缩振动吸收峰。
1078 cm-1附近的吸收峰是Si-O-Si键的伸缩振动的结果;955 cm-1附近的吸收峰则由Si-OH键的扩展振动引起的;798 cm-1和455 cm-1附近的吸收峰分别对应Si-O-Si键的扩展振动和横向振动;
你看有很多峰都可以对应。
该帖子作者被版主 tangtang2积分, 2经验,加分理由:技术分析。
tangtang
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原文由 延陵子(QSY) 发表:
通过红外判断是否含硅!不太合适!
还是测试元素分析吧!

1157 cm-1左右的吸收峰为Si—O—Si反对称伸缩振动吸收峰,波数为792和607 cm-1左右的吸收峰为Si—O—Si对称伸缩振动吸收峰。
1078 cm-1附近的吸收峰是Si-O-Si键的伸缩振动的结果;955 cm-1附近的吸收峰则由Si-OH键的扩展振动引起的;798 cm-1和455 cm-1附近的吸收峰分别对应Si-O-Si键的扩展振动和横向振动;
你看有很多峰都可以对应。


可能是想综合判定吧。
20020818
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原文由 延陵子(QSY) 发表:
通过红外判断是否含硅!不太合适!
还是测试元素分析吧!

1157 cm-1左右的吸收峰为Si—O—Si反对称伸缩振动吸收峰,波数为792和607 cm-1左右的吸收峰为Si—O—Si对称伸缩振动吸收峰。
1078 cm-1附近的吸收峰是Si-O-Si键的伸缩振动的结果;955 cm-1附近的吸收峰则由Si-OH键的扩展振动引起的;798 cm-1和455 cm-1附近的吸收峰分别对应Si-O-Si键的扩展振动和横向振动;
你看有很多峰都可以对应。


楼主的方法应该是电子行业测试电路板洁净度的常用方法,一般是用硅的4个特征峰综合判断,除可定性外,还可以用硅油定标后定量
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