主题：【讨论】仅用TLD探头时，什么样品适合减速呢？

原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:

原文由 asahi42(asahi42) 发表:

看来我的观察没错，不过这也说明不同材料的确在减速模式下的响应不同，如果有这方面的文章就好了。我去找找那边著名的SEM和能谱的书吧。林老师推荐的文章等着学习。

我的氧化钛颗粒在10纳米左右。你说的电场线密度不均匀有何方法可以克服呢？是不是加了背散射探头，增加了样品台与物镜之间的“联络”面积，能使电场更均匀呢？物理很差，不知道是不是谬之千里了？

原文由 asahi42(asahi42) 发表:
挖靠，天黑老师您物理差，那我就是物理的毒药了…10nm的颗粒应该不会影响到电场线的均匀度，所以您这个问题要看了照片才能说话

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
真是悲剧。为什么减速后二次电子会减少呢？如果原先是3kV，加2kV的减速之后变成1kV落地，这两种状态下确实是前者信号要强一些。JEOL是把2kV反馈到电子枪上。如果原先是3kV，加2kV减速后，落地电压仍然是3kV，但是电子枪部分变成了5kV加速。这两个状态比较，我看到的是信号要增强一些。这种增强确实是减速场的反向加速效果造成的。其实有会聚作用的透镜都有信号捕捉作用，即便没有加速场，物镜泄露的磁场本身也能捕捉信号。

原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:

原文由 asahi42(asahi42) 发表:
挖靠，天黑老师您物理差，那我就是物理的毒药了…10nm的颗粒应该不会影响到电场线的均匀度，所以您这个问题要看了照片才能说话

好吧，我们最近会麻烦您再来一次，到时候当面请教。

原文由 asahi42(asahi42) 发表:
我感觉如果让FEI看到这个帖子，我就离卷铺盖走人不远了。。。不仅是物理的毒药，更有成为FEI的毒药的趋势

天黑老师您可以的，老林上传的只是Yinghong-Lin的paper，您干脆把她的Ph.D论文挖出来了~哈哈哈，太好了，这篇文章我要好好研究，好好研究，好好研究~~~

原文由 asahi42(asahi42) 发表:
我感觉如果让FEI看到这个帖子，我就离卷铺盖走人不远了。。。不仅是物理的毒药，更有成为FEI的毒药的趋势

天黑老师您可以的，老林上传的只是Yinghong-Lin的paper，您干脆把她的Ph.D论文挖出来了~哈哈哈，太好了，这篇文章我要好好研究，好好研究，好好研究~~~

原文由 asahi42(asahi42) 发表:
很少有三更半夜大家讨论得那么热火朝天的~看来SEM真的大有可观啊~