主题：【讨论】再抛一问：为何原级X级射线的入射角和出射角不同？

原文由 loaferfdu(loaferfdu) 发表:
谁说的“大部分以一定方向射出”？

只是说我们检测器摆的位置相对固定吧？

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谁说的“大部分以一定方向射出”？

只是说我们检测器摆的位置相对固定吧？

"大部分"---是我个人的理解，没有直接根据。因没有仔细看过仪器内部结构，书上也没有说超尖锐端口对着样品的入射方向

跟准直器对着样品的出射方向是在一平面内，但可以合理推测是在一个平面内，那在这个平面内我猜测肯定有一个角度范围内的X射线光子比较多，不可能在360°范围内都是均与的，请见《X射线荧光光谱分析》吉昂等著，2003年版P69页，“。。出射角在35°-45°之间变化，对轻、重元素X元素射线荧光强度的影响在±10%内”，反之，在这个范围外，影响很可能在±10%以上了。那可以认为这个范围内出射X射线光子比较多了。瑞利散射，方向改变，康普顿散射方向也改变，样品特征X射线方向从某种意义上说，我认为也是随机的，那这就解释不通了这个范围为什么存在了。。。

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谁说的“大部分以一定方向射出”？

只是说我们检测器摆的位置相对固定吧？

"大部分"---是我个人的理解，没有直接根据。因没有仔细看过仪器内部结构，书上也没有说超尖锐端口对着样品的入射方向

跟准直器对着样品的出射方向是在一平面内，但可以合理推测是在一个平面内，那在这个平面内我猜测肯定有一个角度范围内的X射线光子比较多，不可能在360°范围内都是均与的，请见《X射线荧光光谱分析》吉昂等著，2003年版P69页，“。。出射角在35°-45°之间变化，对轻、重元素X元素射线荧光强度的影响在±10%内”，反之，在这个范围外，影响很可能在±10%以上了。那可以认为这个范围内出射X射线光子比较多了。瑞利散射，方向改变，康普顿散射方向也改变，样品特征X射线方向从某种意义上说，我认为也是随机的，那这就解释不通了这个范围为什么存在了。。。

为了回答你的问题，我还专门翻了一下吉昂老爷子的书，然后觉得你可能理解错了。

首先老爷子没有明确说这个出射角和入射角的定义，就这么引述了，这里先鄙视一下老爷子，不讲清楚，让我们这些后生小辈为难。

我这里把出射角和入射角理解为X射线对样品表面法线的夹角，这个理解不一定对，你可以查阅一下老爷子提到的Gurvich文章，看看确切的定义是什么。

按照我的理解，其实这个问题很简单，入射角和出射角度不一样，那么X射线在样品中走得光程就不一样。

以出射角为例来说明，其实这里的出射角取决于样品台与检测方向的夹角，就是你的分光晶体与检测器安装位置。你在纸上画个示意图就很容易明白，某个位置激发出了一个X光子（荧光），如果出射角大，那么荧光X射线在样品内走的光程就长，光程长，被吸收的就会多一些，很显然，对于轻元素与重元素，由于其特征能量不一样，其穿透能力也不一样，那么检测器检测到的荧光光强也会不一样。那么这个影响有多大呢？

老爷子提到的Gurvich文章利用Criss基本参数法计算表明，这个影响并不大，“入射角和出射角分别在55°-90°和在35°-45°之间变化，对轻、重元素X元素射线荧光强度的影响在±10%内”。

很显然这个理解与你的理解不一样。而且Gurvich的文章其实对仪器厂家更有用一点，在设计和安装时，我们总归希望同样的样品，检测到的信号荧光强度更大一些。按照该文观点，其实你检测器安装在35°-45°的出射角度范围内，影响很小，在10%以内。对于一般使用者，这段话意义不大。

这里并不是说，X射线出射是由择优取向的，这个问题并不存在。

最后说句题外话，我觉得你有些钻牛角尖了。照你现在这种看书的方法，一年之后你对XRF也不会入门。其实现在你只要知道X光管能够发出X光，这个X光能够激发X荧光，这就够了。至于原级光怎么产生的，X荧光又是怎么检测的，检测器如何工作，这些知识在入门阶段不需要了解，因为XRF的重点不在这里，你更需要知道的如何制样，如何建立检量线，如何解析谱图干扰，如何修正基体效应，还有标样体系。如果你现在纠缠于这些细枝末节的东西，时间都浪费在这里的话，这是不值得的。

当然我并不是说了解这些东西是错误的，问题是不同的阶段应该有不同的学习重点。你在这个领域呆上两三年再回头细细考虑这些问题也不迟。