原文由 ian.cheng(chengxiaojun) 发表:原文由 它山之石(graymice) 发表:
主要是一些小部件,如贴片电阻,贴片电容,虽然理论上可以拆分成均质材料,但实际操作起来就很困难。尤其是考虑到测试需要的样品量,如果从成品上来取的话,很多客户也不同意,成本太高。中国的标准就比较人性化一些,小于一定体积的就不需拆分。
也就是我们说的整体测试,这样如果是XRF筛选,不同材料整体测试,曲线该如何选择才比较合理呢?
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主要是一些小部件,如贴片电阻,贴片电容,虽然理论上可以拆分成均质材料,但实际操作起来就很困难。尤其是考虑到测试需要的样品量,如果从成品上来取的话,很多客户也不同意,成本太高。中国的标准就比较人性化一些,小于一定体积的就不需拆分。
也就是我们说的整体测试,这样如果是XRF筛选,不同材料整体测试,曲线该如何选择才比较合理呢?
个人觉得还是看主要成分来选择,比如说电阻电容,选玻璃的方法,还有一个好像叫FP还是FT总体扫描的方法。
原文由 ian.cheng(chengxiaojun) 发表:原文由 它山之石(graymice) 发表:原文由 ian.cheng(chengxiaojun) 发表:原文由 它山之石(graymice) 发表:
主要是一些小部件,如贴片电阻,贴片电容,虽然理论上可以拆分成均质材料,但实际操作起来就很困难。尤其是考虑到测试需要的样品量,如果从成品上来取的话,很多客户也不同意,成本太高。中国的标准就比较人性化一些,小于一定体积的就不需拆分。
也就是我们说的整体测试,这样如果是XRF筛选,不同材料整体测试,曲线该如何选择才比较合理呢?
个人觉得还是看主要成分来选择,比如说电阻电容,选玻璃的方法,还有一个好像叫FP还是FT总体扫描的方法。
你说的是基本参数法FP和标准工作曲线法EC吗?