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ID：xurunjiao5339
行业：其他
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原文由 tang566(tang566) 发表:两种波动都与仪器的稳定性有关，只是影响的部件和周期不同，前者也包含谱线的重叠干拢。
ID：abcpgf
ID：tang566
原文由 abcpgf(abcpgf) 发表:原文由 tang566(tang566) 发表:两种波动都与仪器的稳定性有关，只是影响的部件和周期不同，前者也包含谱线的重叠干拢。前者位置没变，可以理解为元素干扰，后者位置变化需要进行波长校准。
原文由 tang566(tang566) 发表:原文由 abcpgf(abcpgf) 发表:原文由 tang566(tang566) 发表:两种波动都与仪器的稳定性有关，只是影响的部件和周期不同，前者也包含谱线的重叠干拢。前者位置没变，可以理解为元素干扰，后者位置变化需要进行波长校准。峰的高低有变，进样系统的稳定性不好，会对其有影响，如，残留、微堵等。
ID：v2658860
原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:原文由 yangchengh(v2658860) 发表:峰位上下移动一般是进样系统原因，左右移动就是谱线发生漂移，应该进行波长校正进样系统一般会导致测试样品结果重复性差，如RSD变大，谱线漂移的话那就是光室温度环境或者仪器自身稳定性导致波长漂移，需校正，如果校正不行，问题任然存在，就需要维修仪器了
原文由 yangchengh(v2658860) 发表:峰位上下移动一般是进样系统原因，左右移动就是谱线发生漂移，应该进行波长校正
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