原文由 冰山(yang_qingwen) 发表:
原文由 夕阳(anping) 发表:
各有优缺点。
(1)峰高法:测小信号或者多峰的信号准确;但是重现性不易保证。
(2)峰面积法:重现性好,但是对于小信号或者多峰的信号时,重现性不易保证。
我偏爱峰高法。
安老师,选用峰高还是峰面积是否跟灰化阶段能否清除掉基质成分有直接关系?或者是跟干扰因素对峰型影响类型有关?记得以前看过您讲解过图谱,说明在什么情况下该分别选用哪种测量方式
你的看法非常正确。
的确,究竟采用何种计算模式,主要是依据样品信号峰形来决定的。峰形对称,简单;采用逢高和峰面积均可。如果峰形为双峰以上,则采用峰高为妥当。此外还有一个容易被忽略的因素,那就是背景信号的峰形状态。因为一个仪器一旦选定一种计算模式,那么它的背景信号也会相应地采用选定的模式。由于
原吸测试结果是总的吸光值减去背景值,所以背景信号的峰形也是影响测试结果重现性的因素。当背景信号的峰形比较复杂和拖尾时,采用峰高计算模式就很合理了。
当然习惯和偏爱也是一个不可小觑的因素。