主题:请教有没有仪器可以测镀层厚度又能测成份的含量?

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wayneguo
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对这位大哥的看法,略有些不同的看法,现国内的X荧光光谱仪的性能有很大的提升,对测试渡层厚度在一定程度上有很成熟的技术,现国内出现的光谱仪,不仅可以对元素进行分析,求含量,对渡层厚度也是可以的,至于精度,我想在技术原理上也是允许的.可以建议在网上搜索,深圳华唯的X荧光光谱仪,应该可以解决上面的问题.
lwchengzipo
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在线测定:理学的XRF仪器可以,帕纳克的XRF也可以,不妨与他们的办事处联系,价格不菲。
letianlgr
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原文由 chenfu810 发表:
不对吧,天瑞的XRF不能测镀层厚度的吧,至少上次有个买天瑞XRF的人说不能的.
这个公司不会应ROHS而生,应ROHS而亡的吧


天瑞产生已经有17年的历史,初期是从事贵金属含量测试,就是金银首饰器具的含金量测试,目前全国范围内基本都用天瑞的仪器,特别是金银首饰的加工地—深圳。这里的生产厂家占全国的90%以上,所有的厂家都使用天瑞的仪器,后来发展到测试水泥、钢铁镀层厚度等工业方面,现在的用途就更不用说了,怎么可能应RoHS而亡呢?不过华唯剂量就比较难说了。还有刚刚那位仁兄说什么度测厚度只能侧2—3层,一般情况下,只要在穿透能力范围内,都可以测试,只是测试结果如何而已。
letianlgr
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原文由 810315 发表:
原文由 limengyao2008cn 发表:
一群不懂的人在瞎扯,测样品的镀层厚度和成分分析怎么会要用到辉光放电仪,这不是在用高射炮打蚊子吗....
还有那个卖天瑞仪器的人,根本就一点也不懂镀层的厚度和成分怎么测才可靠,现在国际上根本没有一个标准的能够准确测量镀层厚度的方法
一般的EDXRF,只能对付2-3层镀层厚度和成分分析,具我所知,天瑞的仪器根本做不了金属材质的测量.而只有高端的XRF,好象热电,HORIBA的还行.
对于小于1mm以下的样品,只有采用飞世尔的仪器在镀层测量这一块是最好的..
其它的根本不行


“具我所知,天瑞的仪器根本做不了金属材质的测量.而只有高端的XRF,好象热电,HORIBA的还行.”
    这位兄台哪里来的消息,不知道就不要乱讲嘛。什么叫只有高端的才可以?难道只有高端的单反相机才可以照相,普通的家用相机就不能照相了?难道卖200万就叫高端,卖30万就是低端?高低端是按产品性能来分的,而不是按价钱来分。
    我承认fisher在镀层这一领域做得很出色,您可以拿fisher的标准镀层样品来对比测试,天瑞不会比fisher差




完全同意,支持,希望那些不太懂的朋友和枪手们引起注意!
atlas
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岛津EDX-720薄膜FP法测镀层厚度,当然推荐采用FISCHER的XULM系列专用测量仪测镀层厚度。
tanyong99
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X荧光光谱仪能测,是无损测试.我们公司有这种仪器,应当说不太准确,测试的时候我们用ICP来测试,用化学法.
lixng
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现在能够测试度层厚度和成分含量的仪器比较多了。专用的金属镀层测厚仪都是用的XRF原理。只是以前所采用的检测器是比例计数器,分辨率和精度都达不到测试含量的水准。现在随着高分辨率的检测器的出现,这个问题已经迎刃而解。我所知道的,美国电的MicronX系列测厚仪测试这个是没有任何问题的。
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