主题:关于纳米带生长方向的疑问

浏览0 回复6 电梯直达
bmylark
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
通常的做法是一张 HRTEM 加 SAED,请问一张 SAED 就可以吗?
Ding yong在JPCB文章(J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12280-12291)中说最常用的是 HRTEM 加 FFT

是不是FFT 可以完全替代SAED?我想由于形状引起的斑点拉长,FFT弄不出来吧?

还有这种做法我想是基于这样的假设:纳米带上表面的法线方向和电子束入射方向一致,也就是说纳米带完全是平躺着的,实际情况就不完全是这样,那怎么办?
难道还需要三套斑点?

为您推荐
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
天黑请闭眼
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 bmylark 发表:
通常的做法是一张 HRTEM 加 SAED,请问一张 SAED 就可以吗?
Ding yong在JPCB文章(J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12280-12291)中说最常用的是 HRTEM 加 FFT

是不是FFT 可以完全替代SAED?我想由于形状引起的斑点拉长,FFT弄不出来吧?

还有这种做法我想是基于这样的假设:纳米带上表面的法线方向和电子束入射方向一致,也就是说纳米带完全是平躺着的,实际情况就不完全是这样,那怎么办?
难道还需要三套斑点?


FFT不能等同SAED,但是如果因为区域太小而NBD又难以做到,FFT是个好的选择。至于你说的形状引起斑点变形,是不是说位错?如果高分辨没有问题,一般也能作出来。

至于生长方向,你考虑的很细致,我觉得一般纳米带即使略微有些不平整,也会在倾转过程中校正过来吧。没有仔细考虑过,大家指教啊。
bmylark
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
谢谢您的回答!
我说的是指由于样品形貌导致倒易杆拉长,streaking。FFT与SAED的另一个区别就是没有磁转角。

我想问的问题就是在用HRTEM+SAED(or FFT)来确定纳米线或者纳米带生长方向的时候,如果纳米带的上表面的法线和入射电子束不完全重合,这时候也可以得到很好的HRTEM照片,这样去找去生长方向垂直的那个面的法线(Ding的JPCB)方向,就不正确,至少和我们想要的生长方向不一致。

同样的,用shadow imaging方法求得生长方向,同样存在这样的问题。

我不知道别人在这么做的时候是怎么想的?

我有一种想法,如果上表面的法线方向和入射电子束不垂直的情况下,得到的HRTEM会不会有因为高度差造成的过焦或者欠焦,或者说这种情况下,高度差非常小以至于可以忽略,我没有计算过。

到底应当怎么理解这个问题?
tem_abc
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
如果我没理解错,你的疑问是样品取向不正的影响。样品的取向通常都是由衍射花样来确认的,如取向相差太远,则通过样品台的双向倾转来调整。调整后的晶体取向与电子的入射方向,最多相差一、两度而已。这与晶带轴之间的夹角来比小得很多,不应该影响到对纳米线生长方向的判断。
另外,你说晶带轴与电子束不完全重合时也可以得到很好的高分辨,我认为这不是完美的高分辨。晶体不正,通常会破坏晶体的对称性,使得高分辨像无法用晶体的投影匹配。这个可以用模拟像来证实。
jed
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
bearfly
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
ywngs
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴