主题:AFM中假相的判断-修饰过的SiO2颗粒

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jeasy
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用的是Veeco的AFM
有一定仪器工作经验的人对于一般的断针、双针尖、多针尖的判断都没有问题,但有时候不同性质的样品(如软硬不同,表面粘附力不同)对形貌成相影响也很大,而且通过gain值和setpoint调节也不能增加其分辨率,扫不出样品的真实形貌,这样往往不好判断,或是不好解释形貌中一些现象
这是一张修饰过的SiO2颗粒的形貌图,请高手评析------
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清风侠
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原文由 jeasy 发表:
用的是Veeco的AFM
有一定仪器工作经验的人对于一般的断针、双针尖、多针尖的判断都没有问题,但有时候不同性质的样品(如软硬不同,表面粘附力不同)对形貌成相影响也很大,而且通过gain值和setpoint调节也不能增加其分辨率,扫不出样品的真实形貌,这样往往不好判断,或是不好解释形貌中一些现象
这是一张修饰过的SiO2颗粒的形貌图,请高手评析------
quote]
要评析什么?
sun8069789
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感觉这图片还是可以的,最好在借助sem看一看就好了! 单是一种仪器有些误差避免不掉的
jeasy
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对不起各位,没有说清楚
这是一张SiO2颗粒的形貌图,可是颗粒顶端或高处的一些特征却出现坑状形貌,我自己感觉不太对,也不太清楚什么原因造成,所以请教各位高手评析,以便提高操作水平
谢谢
jigang
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