主题:【求助】EDX能谱测量准确性?

浏览0 回复4 电梯直达
dingdangyu1030
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操作中总是遇到这几个问题,但不知道原因,求答案。
1. 透射电镜中EDX测出Cu是什么鬼?
  特别是用Cu网的时候,过去总说是因为Cu网,但是电子束明明离Cu网老远,在C膜的中心,为什么会有Cu的信号?
2.同样的样品,SEM测试结果更符合预期?
谢谢
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蓝莓口香糖
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Cu信号主要是由照明光路产生的硬X射线激发的,照射范围相当大。
wjianna
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只要用了铜网,铜峰就免不了出现!虽然你没有直接将电子束打在铜网上,散射电子是避免不了的。

第二个问题是关于定量分析。
能谱的定量分析受很多因素的影响,即使扫描电镜中的测试结果准确性也要看具体情况。
透射电镜中的能谱影响因素也很多,本来就不能用于定量分析,充其量只能是半定量。
dingdangyu1030
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
Cu信号主要是由照明光路产生的硬X射线激发的,照射范围相当大。
谢谢蓝莓版主
dingdangyu1030
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原文由 wjianna(wjianna) 发表:
只要用了铜网,铜峰就免不了出现!虽然你没有直接将电子束打在铜网上,散射电子是避免不了的。

第二个问题是关于定量分析。
能谱的定量分析受很多因素的影响,即使扫描电镜中的测试结果准确性也要看具体情况。
透射电镜中的能谱影响因素也很多,本来就不能用于定量分析,充其量只能是半定量。
谢谢您的回复
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