主题:【求助】请教一个背景扣除的问题

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jesus
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我有一个朋友想做碳酸钡中的硅和铝的测定。目前有两种仪器选择,一种是氘灯扣背景,一种是塞曼。但塞曼太贵,所以我想帮他问问大家,可否用氘灯做这个测定的背景扣除。
多谢各位大大了。
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没有问题的

氘灯校正背景的波长范围是:185-430nm(有效范围185-370nm)
Al的测定波长是: 309.3 nm
Si的测定波长是: 251.6 nm

而且相比于塞曼校背景而言,氘灯校正背景的灵敏度是比较高的,原子化器的灵活性也比较高

原文由 Jesus 发表:
我有一个朋友想做碳酸钡中的硅和铝的测定。目前有两种仪器选择,一种是氘灯扣背景,一种是塞曼。但塞曼太贵,所以我想帮他问问大家,可否用氘灯做这个测定的背景扣除。
多谢各位大大了。
夜市
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氘灯也有个缺点:扣不了结构背景!
不同的扣背景方式有各自的优缺点,应根据不同的样品来决定选用,当然最好买两种扣背景方式都有的仪器。
九重天
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jesus
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哇塞!我还以为帖子沉了。没想到居然还有三个人回复。谢谢大家!
我想给你们一些分数,怎么给呢?
xuhaibin2049
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我用过的扣背景有三种方式:
氘灯、塞曼和自吸方式。
如果选塞曼记得关注一下是否为电磁产生的塞曼,因为永磁产生的塞曼效应,是没有针对性的
建议考虑一下自吸和氘灯,两种方式。
dangbo3340569
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