背景高低很关键 特别是要考察仪器detection limit的时候
最烂的XRD谱,是背景超高,净峰强又很小。 对这样的谱,你即使那一条直线去fit,也能得到不错的Rwp。然而你什么信息也拿不到。
最好的XRD谱,是背景超低,净峰强又很高。 对这样的谱,Rwp完全来自于你的精修模型与峰的匹配程度,这才是有意义的Rwp。
所以,考察XRD谱的质量,要看峰/背比。而不是信/噪比!
对于信/噪比,只要扫描时间加长就会提高,然而这不能提高 峰/背比。峰/背比 是由仪器光路元件与探测器决定的,那才是钱该花在的地方。