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主题：【讨论】有关背景校正问题

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JOE HUI

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发表于：2017/11/13 13:35:18 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

于ICP光谱仪来说，基体匹配是最理想的，但在很多情况下，都是不现实的。由于样品之间的成分不同、样品与标准之间的成分不同、连续光谱以及谱线拖尾都可能导致背景干扰，因此要得到正确的分析结果，背景校正就显得非常重要。
如果不实行背景校正，则在每个峰值中心位置确定的原强度被用于计算浓度。较高的峰值比未受镁影响的峰值获得较高的分析结果。对于这种背景来说，背景校正是必需的。
背景校正消除了由于背景抬高所带来的干扰。浓度是以净强度为基础计算的。
净强度＝原强度－背景强度
在选择背景位置时，应遵循：
1）将背景位置定在尽可能平坦的区域（无小峰）。
2）将背景位置定在离谱峰足够远的地方，从而不受谱峰两翼的影响。

左背景、右背景以及左右背景强度的平均值尽可能与谱峰背景强度一致。

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2017/11/14 8:45:59 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

对于背景的选择是不是太难了，因为标准曲线的空白背景不可能与测试样品的背景一样。测试样品的空白背景更加不可能与样品的背景一样！基体复杂的样品就会出现很多干扰：光谱干扰，基体干扰，化学干扰，电离干扰等等，我们虽然有相应的解决办法，但在实际做样中很难做到这些，不知您有什么高见？

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JOE HUI

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2017/11/14 8:52:56 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 诚信(zhaoxudong-1) 发表:
对于背景的选择是不是太难了，因为标准曲线的空白背景不可能与测试样品的背景一样。测试样品的空白背景更加不可能与样品的背景一样！基体复杂的样品就会出现很多干扰：光谱干扰，基体干扰，化学干扰，电离干扰等等，我们虽然有相应的解决办法，但在实际做样中很难做到这些，不知您有什么高见？

的确很难做到这样，所以只能尝试尽可能的去解决这些问题，比如内标法！

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