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原文由 nameylf(nameylf) 发表:
看到大家的争论，有点头大，不知道从哪儿解释起。实际上，分辨率不是一个简单的指标，更不是代表一种探测器性能的唯一的指标；而且，分辨率都是在特定试验条件下对Mn的Ka线测量得到的试验结果，这些条件包括计数率，成型时间等等。实际上，Si（Li）探测器、Si-PIN探测器、SDD探测器，其分辨率水平都差不多，基本上都可以做到150ev以下，当然这是在最佳试验条件下得到的结果。但Si-PIN和SDD探测器在其他方面有明显的优势。Si-PIN和SDD探测器可以在电致冷下正常工作，而SDD可以在很高的计数率时保持良好的分辨率水平。这些优势在实际使用时都很重要！
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