主题:【求助】Icp-MS的Deflect透镜和plate Bias透镜分别有什么作用?

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ICP-MS的Deflect透镜和plate Bias透镜分别有什么作用?
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这是安捷伦ICPMS上的参数,离子从八极杆碰撞反应池出来,经过离轴偏转,再进入四极杆质量分析器。
这两个透镜参数就是控制 池后离轴偏转程度与聚焦的。Deflect越偏正(例如从8V 升到 13V),重质量元素的信号响应增加,与此同时轻质量元素信号响应骤降。Nogas模式下 通常把 Deflect设置到10-12V,Plate Bias 设置为-40V。
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m3040275
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原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
这是安捷伦ICPMS上的参数,离子从八极杆碰撞反应池出来,经过离轴偏转,再进入四极杆质量分析器。
这两个透镜参数就是控制 池后离轴偏转程度与聚焦的。Deflect越偏正(例如从8V 升到 13V),重质量元素的信号响应增加,与此同时轻质量元素信号响应骤降。Nogas模式下 通常把 Deflect设置到10-12V,Plate Bias 设置为-40V。
谢谢,讲得很详细,那碰撞池入口和碰撞池出口透镜又是怎样的呢?
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