主题:【求助】薄膜断面样品减薄

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zwchua
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薄膜断面样品制备时,用离子减薄穿孔后,再小角度减,一般要减到什么程度为止
推荐答案:ywngs回复于2007/02/05
当减薄至穿孔后小角度低电压,目的不在减薄而在清洁样品表面的污染.清扫几分钟就行.
补充答案:

zxl2003回复于2007/02/05

穿孔后要看清孔的位置,如果孔穿在基片或衬底上就得继续减薄,需借助显微镜监视小孔的扩展情况,使孔的轮廓线刚接触到粘接缝时为止。

sun-guo回复于2007/09/08




离子减薄样品中出现大量位错,这个要小心,搞不好是制样引入的假象。若离子减薄的时间很长,假象的可能性就较大。需多个样品相互验证

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ywngs
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当减薄至穿孔后小角度低电压,目的不在减薄而在清洁样品表面的污染.清扫几分钟就行.
zwchua
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你好,谢谢你的热心相助!可我做了几个样,穿孔后再减了10几分钟,在穿孔位置附近都找不到所需要的信息,而这材料前段时间叫另外同学是做出结果来的,附近可见大量的位错,难道是透镜观察时出了问题?
zxl2003
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穿孔后要看清孔的位置,如果孔穿在基片或衬底上就得继续减薄,需借助显微镜监视小孔的扩展情况,使孔的轮廓线刚接触到粘接缝时为止。
zwchua
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谢谢前辈点拨,可我当时从显微镜观察发现孔处于中心位置,而且孔的面积较大,肯定有和对粘面相交的地方,难道会是其他什么问题吗?
sun-guo
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原文由 zwchua 发表:
你好,谢谢你的热心相助!可我做了几个样,穿孔后再减了10几分钟,在穿孔位置附近都找不到所需要的信息,而这材料前段时间叫另外同学是做出结果来的,附近可见大量的位错,难道是透镜观察时出了问题?



离子减薄样品中出现大量位错,这个要小心,搞不好是制样引入的假象。若离子减薄的时间很长,假象的可能性就较大。需多个样品相互验证
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