主题：【分享】编制DMF厂家需要提供的资料

12 、物料控制A
(1) 所有原材料(包括原料、起始物料、试剂、溶剂、催化剂)列表，项目包括物料名称、物料代码(根据物料编码系统SOP)、每个物料的合格的原料供应商。(2) 分别提供所有原材料的质量指标 (3) 分别提供所有原材料的化验方法 (4) 提供所有原材料的化验报告单复印件各一份。(5) 请说明关键物料的指标的合理性
13 、物料控制B
(1) 请提供所有包装材料(内包材和外包材)列表，项目包括物料名称、物料代码(根据物料编码系统SOP)、每个物料的合格的原料供应商。(2) 所有包装材料的质量指标 (3) 所有包装材料的化验方法 (4) 所有包装材料的化验报告单复印件各一份。(5) 内包装材料的红外光谱图复印件一份,且说明是LDPE或是HDPE。(6) 接触产品的包材是食品级的证明或说明。
15 、物料控制D
(1) 关键中间体列表(包括使用到的回收溶剂) (2) 各个关键中间体的质量指标 (3) 各个关键中间体的化验方法 (4) 各个关键中间体的化验报告单复印件
16 、关键中间控制
(1) 列表表示关键中间步骤、各步骤的参数或质量指标范围、相应的检测/化验方法。(2) 规定这些关键中间步骤的合理性 (3) 关键中间步骤的参数或质量指标范围的合理性
17、 请提供工艺验证方案和报告。
18 、请提供工艺开发、改进的报告。特别是最近(后)一次的工艺变更。这些变更包括：生产工艺(参数)、设备、生产车间、生产地点、原材料、包装材料、原材料和包装材料和供应商、稳定性研究等。并请列表显示变更前后的关键工艺参数指标(范围)的比较。
19、 结构确认：请提供某一批产品和EP标准品的以下图谱和相应的解析(结构分析)：(1) 红外光谱(IR) (2) 紫外扫描图谱(UV) (3) 质谱(MS) (4) 核磁共振氢谱(1H-NMR)
(5) 核磁共振碳谱(13C-NMR) (6) 差热分析(DSC) (7) X-光衍射图谱 (8) 元素分析(样品和理论值) (9) 晶体显微照片(未经粉碎的样品以及USP标准品) (10) 结构解析报告
20 、杂质分析：(1) 所有潜在的已知的有机杂质的名称(中英文)、分子式、结构式、分子量、来源(比如起始物料、其他原料、中间体、副产物、降解产物、同分异构体、手性异构体、不同晶型等)、去除方式、质量指标(每个已知杂质、最大未知单杂以及总杂质)。需要结合长期稳定性试验、加速稳定性试验、破坏性试验、HPLC方法验证结合分析。(2) 所有潜在的残留溶剂的名称(中英文)、分子式、结构式、分子量、来源(比如起始物料、其他原料、副产物等)、去除方式、质量指标。(3) 所有潜在的无机杂质的来源、去除(如结晶、离子交换、活性炭吸附等)以及质量指标。 (4) 分析所有杂质指标的合理性。
21 、成品的批分析，统计10-20批的含量、杂质(单杂、总杂)、残留溶剂、干燥失重等指标。并附3批化验报告单以及相应批次的批分析原始记录。
22、 标准品:：(1) 说明日常检验所用的标准品来源 (2) 如果使用的是“自备的工作标准品”或“中国药品生物制品检定所标准品”作为工作标准品，需要提供其来源，以及合成工艺等。
23 、(1) 请提供产品的包装规程，以及相应的内外包材的工程图(标明尺寸)。(2) (USP产品的)标签格式。(3) 说明选择这类包材的理由：如防潮性、避光性、耐热性、承重、撞击等等。
24、 稳定性研究：(1) 加速和长期稳定性研究方案(SOP)，包括稳定性留样批次的规定、研究条件(符合ICH指南Q1A) (2) 有关批次的长期(至少2年)和加速稳定性(至少6个月)研究结果汇总表。(3) 建议稳定性样品的检测至少包括：含量、杂质(单杂和总杂)、干燥失重、熔点、比旋光度、溶液pH值等，不需要检测残留溶剂、鉴别等项目。偏差值不能够超过成品指标的5%(相对差值)。(4) 稳定性样品的含量和杂质分析，至少有一种是HPLC方法，且该方法是经过验证、证明是能够显示稳定性的(峰纯度验证)。(5) 破坏性(强制降解：酸、碱、高温、高湿、强光、氧化剂等)试验的条件和结果统计；附相关图谱。(6) 根据以上结果，得出的产品有效期(或重新化验周期)。(7) 如果提交文件时没有达到(2)中的时间规定，需要承诺继续进行试验，当有结果时，提交相关部门。

看过资料，基本了解了DMF文件的大体内容框架，但是，其中的“(6) 用于稳定性研究样品检测的杂质(HPLC)和含量(HPLC)检测方法的专属性验证(用二极管阵列仪验证峰纯度)。以便确定HPLC方法是能够显示产品的稳定性的。这需要结合产品的强制降解试验(即破坏性试验)进行。”
个人认为其实挺难实现的，含量检测方法使用二极管阵列应该没什么问题，杂质如果也用二极管阵列进行峰纯度检测，那就很不容易了，毕竟，许多杂质未必是纯物质啊？

原文由 lqqer 发表:
看过资料，基本了解了DMF文件的大体内容框架，但是，其中的“(6) 用于稳定性研究样品检测的杂质(HPLC)和含量(HPLC)检测方法的专属性验证(用二极管阵列仪验证峰纯度)。以便确定HPLC方法是能够显示产品的稳定性的。这需要结合产品的强制降解试验(即破坏性试验)进行。”
个人认为其实挺难实现的，含量检测方法使用二极管阵列应该没什么问题，杂质如果也用二极管阵列进行峰纯度检测，那就很不容易了，毕竟，许多杂质未必是纯物质啊？

很难实现么？你试过一些其它方法吗？如果有更好的方法可以对杂质进行分析，那可以介绍给大家喽！其实是挺难的，而且大部分不会如此操作。

十分感谢