主题:【活动】积分商城京东卡申领活动第二期(获奖结果已发布)

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wccd
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只要测出Ix b/Ib并减去1,然后取对数即可得到Log(Ix/Ib)。由于Ib是不随分析物浓度变化的常数,故Log(Ix/Ib)一般可以代替IogIx使用。无论光电法或摄谱法,背景强度Ib均在离峰位置(Ix b为峰值位置表观强度)进行测量。对于光电法,离峰位置可由置于光路中的往复振荡的石英折射板来控制(现代商业仪器多采用计算机控制)。
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2020/9/22 11:14:08 Last edit by wccd
wccd
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Ix=Ix b-Ib(注意我们用ICP分析时就用Ix做标准曲线的),一般用谱线与背景的强度比的对数表示:Log(Ix/Ib)=Log[(Ix b/Ib)-1]
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2020/9/22 11:13:44 Last edit by wccd
wccd
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由于背景的存在,使分拆线信号测量值产生正的偏离,对于发射法而言,设Ix为分析线发射强度,Ib为背景发射强度,则谱线的表观强度(Ix b)为:  Ix b=Ix Ib
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2020/9/22 11:13:05 Last edit by wccd
wccd
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离峰校正法是一种经典的校正方法,主要用于简单光谱背景干扰情况和简单元素谱线干扰的校正,常用的有离峰单点,两点,多点等校正方法。当波长漂移比较大、背景分布不均匀时,测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致,此时采用离峰校正法将会引起比较大的误差,因此如果存在上述情况,建议不应使用此法校正。
symmacros
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十七
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之宣
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垫圈要松紧合适,太松会有漏气的隐患,太紧则会压碎垫圈。
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在固定的时期要对仪器进行维护保养以及必要的期间核查。
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