原文由 ustb 发表:原文由 luzhijian561 发表:
大家帮我看看,今天早上刚做的,图象效果不怎么好.
Cu-Si3N4在高能球磨下得到的,期望获得纳米复合粉,即希望得到纳米尺寸的Si3N4弥散分布在Cu基体上,不知道这张照片能反映不??
还有忘了打SADP,需要重新做吗?
打能谱时用的铜网,能谱图中铜的含量受铜网影响大不?
之前的图没贴上,只好重新发个贴了!!
你发的图上看不出Si3N4的分布情况,应该做一下Si3N4衍射斑的暗场像。
铜网肯定会影响能谱分析的结果。
原文由 ustb 发表:
1.你的颗粒团聚比较厉害,重做实验前最好好好分散一下。
2.明暗场像的区别看一下书就明白了,简单来说明场像就是利用透射束成像,暗场像则是利用衍射束成像。如果在选区电子衍射花样上可以识别出Si3N4的衍射斑点或衍射环,相应衍射斑点(或环)的暗场像则可以反映Si3N4颗粒的尺寸和分布。
3.能谱也可以做点成分分析,但一般为半定量结果,不过半定量的结果对你的实验足够了。