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主题：【分享】【“仪”起享奥运】X射线荧光光谱无标样定量分析技术

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发表于：2024/08/06 09:17:58 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
·      X射线荧光光谱无标样分析技术是九十年代推出的新技术，其目的是不用校准样品也可以定量分析各种样品。

·      基本思路：由仪器制造商测量校准样品，储存强度和校准曲线，然后将这些数据转到用户的X射线荧光分析系统中，并用随软件提供的参考样品校正仪器漂移。因此，无标样分析不是不需要标样，而是将校准曲线的绘制工作由仪器制造商来做，用户将用户仪器和厂家仪器之间的计数强度差异进行校正。

·      优点：采用了制造商的标样、经验与知识，包括测量条件，自动谱线识辨，背景扣除，谱线重叠校正，基体校正等。可以在标准样品缺少的情况下分析各种样品中的B to U.的七十几个元素，含量范围从痕量到100%，应用范围较广，但其适用性也带来了分析准确度的局限性，因此，无标样软件也称为半定量软件。
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