主题：【分享】FS-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时城信号采集以及低频噪声测试能力。几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro 测试系统中完成。