主题:【求助】:20-50nm微区的结构和成分用什么测试手段分析

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wangyphit
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HRTEM做衍射时,束斑尺寸是多少
不太明白亚,多多指教
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原文由 wangyphit 发表:
HRTEM做衍射时,束斑尺寸是多少
不太明白亚,多多指教

要分析尺寸为20-50nm颗粒的结构,简单的方法有两个:1.做微衍射;2.做小颗粒的高分辨像,从Fourier变换谱来分析结构。
成分分析直接做能谱就可以了,束斑尺寸5-10nm。
wangyphit
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outstanding
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做微区成分分析,建议使用STEM-EDX。束斑能达到0.7nm,不过比较难调。
tem_abc
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原文由 outstanding 发表:
做微区成分分析,建议使用STEM-EDX。束斑能达到0.7nm,不过比较难调。

几十个纳米的颗粒做能谱或能损谱对于场发射枪来说小菜一碟,也没有必要把光斑弄得如此之小。1-2nm大小的束斑足矣。
tzy123
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jiwenjin
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结构分析可以用XRD,成份分析可以用表面XPS,可以查查相关资料!
uptonow22
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lijinhua6204
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最好选择用场发射的CM2000,可以进行nm尺度选区和mapping,也能进行能量损失谱的分析,同时能进行高分辨香的观察。如果侧重与成分和价太,最好选择更好的。
hywu
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目前不用处理很复杂的数据分析,就是Origin和Excel配合着用就足够了。。
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