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主题：【讨论】热电ICP-AES软件 TEVA的应用

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发表于：2007/05/25 22:39:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我用的是热电公司IRIS Intrepid Ⅱ XSP光谱仪,在工作中有这样两个问题:
1.我在测工业硅中的Ca时,其结果多在0.01以下,用标样作曲线,其点在0.02至0.3共三个点.曲线不过零点,但线性相关系数大于0.999以上.出现曲线低段结果偏高,可否应用扣除试剂空白的方法解决?
2.在TEVA软件的"方法"标签中可以对某一个元素的测定应用计算因子.在何种情况下才能这样应用?这样做对低段结果可能接近,但能否对高段结果造成偏低更多?
有哪位老师能给予解答,可否介绍这方法的书籍或资料?不胜感激!
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wangfeidown
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2007/5/26 8:06:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用超纯的硅（不含Ca）按标准物质和样品处理方法后做为工作曲线的零点。
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