原文由 (zhangxueao) 发表:
版主千万不要删除我的帖子,本来是应该在衍射仪板块中发帖,可惜半天过去了,也没人给我建议,我只有到TEM板块了。因为据我所知,做介孔材料的XRD和TEM是必不可少的两个表征手段,这里一定聚集了很多做介孔材料的高手,故此到这儿来救助!
我用P123作为模板剂制备介孔二氧化硅薄膜,理论上在小角度0.5~2范围会有衍射峰,但是我们测试的时候发现在小角度时候总是出现入射平行光的峰,而没有预期的介孔的衍射峰,这让我们很郁闷啊,不知道哪位牛人做过这方面的工作和测试,应该采用什么测试条件。我们现在用的仪器是Rigaku D/Max 2550型号的衍射仪,应该说在国内已经可以了,在很多文献上也有人报道用Rigaku 的衍射仪做小角。
希望大家能够给予指导和帮助,谢谢!!
有几个原因
1.你的o入射角确定好了吗?入射角 应该在大于0而且小于临界角。
2.增加测量时间。
3.Rigaku SmartLab和Ultima IV应该做小角更好些,但是你也得扫描散射角。得出的是散射的profile,而不是二维的散射图
4.如果用专门的小角散射仪加GISAXS功能(S-Max3000) 测你的薄膜 ,所用时间就少多了,因为用2D探测器,你不用扫描角度。有没有峰,很快就见分晓了