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ID:rubyzsq
行业:其他
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ID:wyaoiut
原文由 rubyzsq 发表:用谢了公式计算晶粒尺寸时,衍射峰的半高宽要扣除仪器本身的宽化,可是不知道怎样能得到仪器本身的半高宽,我在论坛里也看到了一些说法,其中有谈到:仪器本身半高宽与衍射角的位置也有关系,不同的衍射角对应的仪器本身的半高宽数据也不同,因此仪器本身的半高宽与衍射角的关系是一条曲线。怎么能得到这条曲线呢,要用什么标样测呢,改怎么测呢,希望大侠们赐教!
ID:huangjw
原文由 huangjw 发表:在测量样品前,先测量一个硅样品的谱,用样品的宽减去硅样的宽。复杂一点的是平方差开方。
原文由 huangjw 发表:样品峰附近的峰。既然选择硅作标样,就没有考虑不同晶面峰宽不同的问题了,如果要考虑进去,就不能用硅标样,而要用待测样品本身(退火态、粗晶粒)作标样。如测铜,就要用退火铜作标样。
ID:v2940600