主题:【讨论】比较纯的氧化铁粉中分析 SIO2

浏览0 回复4 电梯直达
alexright
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现在有一种氧化铁粉,比较纯净
其中SiO2含量在0.005%左右,
利用氧化铁粉试样做工作曲线,粉末压片法,
1、SiO2含量分析准确性如何?
2、理论上粉末压片做这么低含量的Si还没有试过。
3、玻璃熔片是否可行?
4、如果是纯铁呢?

提出问题,再进一步试验。
欢迎大家讨论。。。 。。。
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windeast
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ljzllj
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原文由 windeast 发表:
应该熔片法是可以的,压片 应该不准。

本来就是50ppm的浓度,熔片再进行稀释,FE2O3的基体,荧光要做到1ppm甚至更低的检出限,好像挺困难吧。
arbo
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原文由 alexright(alexright) 发表:
现在有一种氧化铁粉,比较纯净
其中SiO2含量在0.005%左右,
利用氧化铁粉试样做工作曲线,粉末压片法,
1、SiO2含量分析准确性如何?
2、理论上粉末压片做这么低含量的Si还没有试过。
3、玻璃熔片是否可行?
4、如果是纯铁呢?

提出问题,再进一步试验。
欢迎大家讨论。。。 。。。


可以比较肯定的告诉你,熔片不行,浓度低还不是主要的,主要的是熔剂中有Si。用压片法可以的,关键是你要有标准样品。
sartre
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xrf测不准你这个数据的

原文由 alexright(alexright) 发表:
现在有一种氧化铁粉,比较纯净
其中SiO2含量在0.005%左右,
利用氧化铁粉试样做工作曲线,粉末压片法,
1、SiO2含量分析准确性如何?
2、理论上粉末压片做这么低含量的Si还没有试过。
3、玻璃熔片是否可行?
4、如果是纯铁呢?

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