主题:【求助】AFM分辨率问题

浏览0 回复7 电梯直达
mse2008
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请问大家: 在常规实验情况下,商用AFM的水平分辨率和垂直分辨率能达到什么程度(多少纳米)? 计量型的AFM 又能达到什么程度?
谢谢!
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ative
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Veeco的产品应该有些代表性,别的的公司也差不多。
横向是1nm,纵向0.1nm, 这是实际水平。
不过厂商都吹能做到高很多,其实不现实。
mse2008
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那能否很容易扫出云母或其他晶体的原子像呢?

原文由 ative 发表:
Veeco的产品应该有些代表性,别的的公司也差不多。
横向是1nm,纵向0.1nm, 这是实际水平。
不过厂商都吹能做到高很多,其实不现实。
hitttr
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商用的和计量型的都差不多,横向应该是0.2nm,纵向0.1nm。
这是目前能够用样品来验证的afm最高分辨率。
高于这个数值的指标目前都是无法通过扫描图像来验证的。

云母晶格的晶格常数0.5nm。

基本上所有的商用原子力都能达到这个指标的,
主要的区别就在于获得云母晶格像的难易程度和图像优劣程度。

原文由 mse2008 发表:
那能否很容易扫出云母或其他晶体的原子像呢?

原文由 ative 发表:
Veeco的产品应该有些代表性,别的的公司也差不多。
横向是1nm,纵向0.1nm, 这是实际水平。
不过厂商都吹能做到高很多,其实不现实。
mse2008
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成像难易程度除了环境影响外,主要与仪器性能有关,还是主要与针尖有关呢?

原文由 hitttr 发表:
商用的和计量型的都差不多,横向应该是0.2nm,纵向0.1nm。
这是目前能够用样品来验证的afm最高分辨率。
高于这个数值的指标目前都是无法通过扫描图像来验证的。

云母晶格的晶格常数0.5nm。

基本上所有的商用原子力都能达到这个指标的,
主要的区别就在于获得云母晶格像的难易程度和图像优劣程度。

hitttr
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应该说都有关系吧。针尖问题很好解决,商用针尖的性能差别不会很大。

原文由 mse2008 发表:
成像难易程度除了环境影响外,主要与仪器性能有关,还是主要与针尖有关呢?

原文由 hitttr 发表:
商用的和计量型的都差不多,横向应该是0.2nm,纵向0.1nm。
这是目前能够用样品来验证的afm最高分辨率。
高于这个数值的指标目前都是无法通过扫描图像来验证的。

云母晶格的晶格常数0.5nm。

基本上所有的商用原子力都能达到这个指标的,
主要的区别就在于获得云母晶格像的难易程度和图像优劣程度。

hanweifish
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我以前那台是横向是1nm,纵向0.1nm。AFM手册上写的,然后附有云母的一张例图
也尝试扫过0.2-0.3nm纵向的阶梯图,噪声很大,但是能看出一点趋势
guolinhao
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同一台仪器在不同的模式下,不同的扫描探头,以及不同的探针, 分辨率也会不同,一般厂家给说的都是仪器达到的最理想的值,
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