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主题：【求助】静电力显微镜中电场梯度成像的工作原理

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boo0820
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发表于：2010/05/12 21:09:51 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
悬赏金额：20积分 状态： 未解决
紧急求助静电力显微镜中电场梯度成像的工作原理， 组里最近买了一台omicron的真空AFM，除了向扫描表面之外，还想进行电场梯度成像。我的助教在导电的针尖上加了一个偏压（AC bias），想测量电场梯度。

我是个新手，接触AFM 才2个月，所以想请教各位，在经过这个改变后，我们的AFM 是不是就可以测电场梯度了，另外，静电力显微镜中电场梯度成像的3个方法中，相检测 (phase detection)、频率调制 (frequency modulation)和振幅检测 (amplitude detection) 的工作原理是怎样的。哪个个方式更合适我们的AFM呢
请多多指教咯^__^
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guolinhao
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2010/5/14 17:24:22 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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