X荧光光谱仪(XRF)整套技术,含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。
可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。
先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等)和
X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。
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http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541已经和国内多家仪器商家建立合作关系,都已量产销售。
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