主题:【分享】X射线荧光光谱仪(XRF)、镀层测厚仪专利技术转让,设备OEM

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中石
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X荧光光谱仪(XRF)整套技术,含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。
可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。
先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等)和
X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。
详细资料请查看本网站链接http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541
已经和国内多家仪器商家建立合作关系,都已量产销售。
联系:
邮箱midstone@126.com,腾讯号码 2-6-0-6-6-4-5-6, 手机1-3-9-2656-3756
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原文由中石(midstone)发表:好久没登录网站了,更新下
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