由于ICP光源激发能量高,产生大量的发射谱线,在200~1000nm波长范围内据统计有100余万条谱线,平均每0.1nm就分布有100余条,几乎每个元素的每条分析线均受到不同程度的干扰。这种干扰主要有3种形式:
(1)分析线落于背景干扰的带装光谱上;
(2)分析线与干扰谱线占有基本相同的波长,谱线几乎完全重叠;
(3)分析线与干扰谱线部分重叠。
在建立一个ICP-OES分析方法时都必须先选定分析物的谱线,由于样品基体元素以及分析物之间发射的谱线可能存在光谱干扰,故在谱线的选择时经常要查阅相关元素的谱线资料,特别在分析物比较多,基体复杂的时候,选择一条干扰尽量小的谱线难度更大。