原文由 learner1999(learner1999) 发表:
谢谢安老师,我手头的理论书讲的不够详细,加之理解力不够,所以频频求教.
我的理解是,狭缝是固定的,测的都是狭缝范围内的光强,结构背景是精细谱线,那在锐线光源、氘灯光源中的吸收多少差异,只能由对应波长处的强度决定了,HCL的锐线部分肯定比氘灯波段的强度大,但锐线附近部分光强是怎么呢?
还是我应该这么理解,结构背景的锐线吸收淹没在背景分子的带状吸收中?
再次感谢!
由于阴极灯的发射的谱线是锐线光(pm级),故所观察到的背景平均值是B1。此时背景校正公式为:(A+B1)- B1 =A
而由于氘灯发射的是连续光谱且狭缝较宽(nm级)的原因,故所观察到的背景平均值是B2;正常时 B1=B2。
当氘灯观察的背景信号中有结构背景的存在时,则B2>B1;此时背景校正公式是:(A+B1)- B2 =A1;
由于在没有结构背景存在情况下是:(A+B1)- B1 =A;二者相比较 A>A1。如果结构背景的强度越大,这个差值也就越大。
结论:有结构背景存在的情况下,采用氘灯背景校正的方式会使
测试真值下降。这与阴极灯和氘灯的发射强度无关。
另,只有塞曼背景校正方式的仪器可以克服结构背景干扰。