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当石墨管使用次数多了以后，可能由于样品中的酸度或者原子化温度过高等原因，破坏了石墨管内壁表面的密度而产生了许多空隙，于是就会造成样品渗透到石墨管管壁的深处，继而产生记忆效应。
这种记忆效应造成的后果就是使测量结果的可信度和重现性变差。那么如何判断出石墨管是否有记忆效应呢？那就是采用空烧法来检查和判断石墨管是否有记忆效应。所谓的空烧法就是：利用石墨炉的空烧功能连续对石墨炉实施空烧（时间大约3秒），直至吸光值变化不大为止。下面就是我在一次检修石墨炉测Fe时重现性不良的故障的检修记录，以作辅助说明：
图-1 有记忆效应的石墨管的空测记录
从图-1 可以看出第一次空烧后其空烧值为0.48Abs，第二次空烧值为0.15Abs，这个空烧值也很高了，其后直至空烧空测到第六遍时，空测值才勉强达到0.070Abs，说明该石墨管的记忆效很严重了，这对于微量Fe的测定影响是很大的。
为了确认图-1的结果是否真的因石墨管本身引起的，我就换上了一只新的石墨管，也做空烧实验，以作对比之用。图-2 便是当时的记录图谱：
图-2 新石墨管的记忆效应
从图-2 可以看出，换上新的石墨管后尽管第一、二次的空烧值也很高，但是测到第六次时，其空测值已经到达0.02Abs了；等到空烧到8~10次时，空烧值已经小于0.01Abs了。从以上两图对比可以看出，原石墨管的确存在记忆效应。
小结：
（1）今后如果遇到重现性不良的故障时，首先检查该石墨管有无记忆效应。
（2）如果一时难以判断旧石墨管是否有记忆效应，可以采用新旧石墨管的空烧做对比实验，是对是错？高下立判。
（3）如果石墨管与光轴没有形成同心圆的状态，也会造成空烧值过高的假象，这时必须采用更换新的石墨管来做比对。
（4）至于新的石墨管为何在第一次空烧时均有很大的吸收值的现象产生，这是因为石墨管在加工制作时管腔里混进了杂质所致，空烧一两次便可消除；这也就是为何新的石墨管在使用前要做空烧的原因所在。
（5）如果石墨炉没有空烧功能，可以将原子化温度设置最大化，然后采用直接进入原子化升温步骤即可。
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