根据光谱干扰产生的特点,光谱干扰分四种类型,如图所示。
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1)简单平滑光谱背景
分析线谱峰被平滑背景叠加后,平行向上移动。采用离峰单点校正法,可以准确地扣除光谱背景引起的干扰。即在谱峰一侧或两侧测出背景强度值,从含有背景值的峰值强度中扣除之。
2)斜坡背景
这类光谱背景随波长渐变的,但其变化是线性的。用离峰左右两点法可以对其进行准确校正。即在谱峰两侧等距离地测定两处背景强度,然后取其平均值从峰值强度的测量值中扣除之。
3)弯曲背景
分析线处在共存元素高强度谱峰的一翼,形成渐变弯曲斜坡背景。如果分析线强度较大,则仍可按线性斜坡背景的扣除法进行校正。但如果分析线强度较低,则这种校正背景方法误差太大,会给出错误的分析数据。为了准确校正弯曲斜坡背景,要用多个离峰测点准确地描绘光谱背景,然后扣除背景值。对于这种光谱背景的校正,用在峰法或差谱法是很简便的。即用不含待测元素的溶液(含有等量形成光谱干扰的元素)在峰测出背景值,然后从样品中扣除之。
4)复杂结构背景及谱线重叠
这种光谱背景通常由分子谱带或谱线混合叠加形成。对于这种背景,采用空白溶液校正法是比较有效的。简单的离峰单点或两点法校正往往得出错误的结果,单单根据一幅样品溶液的谱图无法得知峰谱下光谱背景的真实情况。